FOCUS GmbH(德國(guó))

FOCUS GmbH

德國(guó)FOCUSGmbHwww.focus-gmbh.comFOCUS公司成立于1990年，從事電子分光儀和表面分析儀器的開(kāi)發(fā)與生產(chǎn)。大部分FOCUS產(chǎn)品由位于德國(guó)Taunusstein市的OMICRON公司在全球經(jīng)銷。產(chǎn)品系列包括常規(guī)表面分析儀，如電子分光計(jì)和超真空紫外光源。除用于制備納米級(jí)結(jié)構(gòu)的蒸發(fā)器之外，F(xiàn)OCUS公司還開(kāi)發(fā)了一種納米分析儀－FOCUSPEEM。它是一種緊湊型光電顯微鏡，用于各 種表面的電子光學(xué)成像，分辨率可達(dá)40納米。該儀器的性能可通過(guò)選用能量過(guò)濾器得到加強(qiáng)。能量過(guò)濾器為能量選擇PEEM成像（光譜顯微鏡）和局部能量分布光譜（顯微分光鏡）提供了方便的方法。PEEMNano-ESCA系統(tǒng)即是一個(gè)高性能的能量過(guò)濾器。目前，該儀器正在進(jìn)一步開(kāi)發(fā)中，以便為納米分析科學(xué)提供標(biāo)準(zhǔn)。該儀器一方面提高了橫向分辨率，另一方面，除了傳統(tǒng)的表面分析科學(xué)和表面磁性法之外，該儀器又開(kāi)辟了一個(gè)新的應(yīng)用領(lǐng)域。兼容型樣本轉(zhuǎn)移系統(tǒng)保障了PEEM以及其它諸如STM（掃描隧道顯微鏡）/AFM（原子力顯微鏡）之類的納米分析儀器的應(yīng)用。PEEM可以用于檢查納米級(jí)工作函數(shù)的對(duì)比、磁性表面域和化合物的橫向分布。FOCUS-SPLEED是一種用于電子自旋分析的專利產(chǎn)品，配合一個(gè)掃描電子顯微鏡使用可以實(shí)現(xiàn)納米級(jí)磁疇成像(SEMPA)。Sincethefoundationin1990,thecompanyFOCUSGmbHisengagedinthedevelopmentandcreationofinstrumentsforelectronspectroscopyandsurfaceanalysis.ThemainpartoftheFOCUSproductsisdistributedallovertheworldbythecompanyOMICRONGmbHinTaunusstein/Germany.Theproductrangeincludesusualsurfacescienceinstrumentslikeelec