JK-600S高溫電學(xué)探針熱臺(tái)
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JK-600S高溫電學(xué)探針熱臺(tái)是一款針對(duì)研究樣品變溫電學(xué)性能測(cè)試而設(shè)計(jì)的產(chǎn)品，可表征樣品電學(xué)性能隨溫度變化的特征。產(chǎn)品采用電阻加熱的方式，實(shí)現(xiàn)RT~600℃范圍內(nèi)精準(zhǔn)控制，與其他電學(xué)儀表（如電橋、源表、萬用表等）搭配集成，進(jìn)行變溫原位測(cè)試。產(chǎn)品需要與溫度控制器配套使用，配套的上位機(jī)溫控軟件方便進(jìn)行溫度設(shè)置及采集，提供的Labview Vis/C# SDK方便客戶進(jìn)行定制化編程。
1、 可以搭配阻抗分析儀，高阻計(jì)，電化學(xué)工作站，數(shù)字源表進(jìn)行功能材料電學(xué)的相關(guān)測(cè)試
2、 軟件開發(fā)可以進(jìn)行高溫介電溫譜測(cè)試、電阻，電阻率測(cè)試，熱電，熱釋電，TSDC等測(cè)量功能。
產(chǎn)品特點(diǎn)：
溫度范圍：RT~600℃
溫度穩(wěn)定性：±0.1℃
升降溫速度：0~30℃/min
氣密腔室設(shè)計(jì)，可升級(jí)真空
詳細(xì)參數(shù)一覽表：
探針熱臺(tái) | JK-600S | |
溫控模塊 | 冷熱方式 | 電阻加熱 |
溫控范圍 | RT～600℃ * | |
溫度穩(wěn)定性 | ±0.1℃ * | |
溫度分辨率 | 0.1℃ | |
升降溫速率 | 0~30℃/min（可定點(diǎn) / 程序段控溫），高至150℃/min | |
溫控方式 | PID | |
溫度傳感器 | PT100 | |
光學(xué)特性 | 光路 | 透射光路 *可選反射光路 |
視窗材質(zhì) | 石英玻璃（可手動(dòng)拆卸更換） * | |
視窗尺寸 | Φ25mm * | |
物鏡工作距離 | 7mm * | |
透光孔 | 默認(rèn)透光孔 *可選無透光孔 | |
電學(xué)特性 | 探針 | 2個(gè)磁吸式探針/4個(gè)磁吸式探針 手動(dòng)定位 * |
探針接口 | BNC接口 *可選SMA接口 | |
樣品臺(tái)面電位 | 默認(rèn)電懸空 *可選電接地 | |
結(jié)構(gòu)特性 | 樣品臺(tái)尺寸 | 20×20mm * |
樣品臺(tái)材質(zhì) | 不銹鋼 * | |
外形尺寸 | 116×110×25mm * | |
樣品腔高度 | 6mm * | |
腔室 | 氣密 *可升級(jí)真空 | |
外殼冷卻 | 循環(huán)水 | |
基本配置 | 探針熱臺(tái)x1、溫度控制器x1、循環(huán)水系統(tǒng)x1、溫控軟件x1 | |
選配 | 電腦主機(jī)/安裝支架/真空系統(tǒng)/定制溫控軟件 | |
備注 | 以上均為默認(rèn)參數(shù) * 為可定制項(xiàng)
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可進(jìn)行多種電學(xué)功能測(cè)試
1、 高溫介電溫譜測(cè)試
2、 絕緣電阻測(cè)試
3、 四探針電阻率測(cè)試
4、 熱電測(cè)試儀，TSDC熱刺激電流測(cè)試，熱釋電測(cè)試
一、介電溫譜測(cè)試圖
二、高溫介電測(cè)試
模式選擇:根據(jù)等效電路可選擇并聯(lián)模式和串聯(lián)模式;測(cè)量方式:軟件可進(jìn)行介電溫譜與介電頻譜;
測(cè)量參數(shù): s介電常數(shù)、 (E'、t"介電常數(shù)實(shí)部與虛部)、C電容、(C'、C"電容實(shí)部與虛部、D損耗、R電阻、(R'、R""電阻實(shí)部與虛部).Z、(Z'、Z"阻抗實(shí)部與虛部)、Y導(dǎo)納、Y.Y”(導(dǎo)納實(shí)部與虛溫度設(shè)置:可設(shè)置升溫速度、降溫速度、溫度、測(cè)量等待時(shí)間等;
測(cè)量頻率:軟件可設(shè)置測(cè)試的頻率;
數(shù)據(jù)處理:測(cè)量數(shù)據(jù)生成Excel及pdf兩種文件格式;圖像處理:測(cè)量曲線可保存。
高溫介電測(cè)試
三、測(cè)量曲線（電阻、熱釋電、TSDC測(cè)量)
電阻測(cè)量模式:
1、電阻測(cè)量模式:
2、連續(xù)測(cè)量模式:升降溫連續(xù)采集。2、保持測(cè)量:指達(dá)到溫度后進(jìn)行測(cè)量采集TSDC測(cè)量:
3、通過液氮進(jìn)行低溫試驗(yàn)。
熱釋電參數(shù)測(cè)試
TSDC熱刺激電流測(cè)試
電阻測(cè)試
