XRF分析儀,EDXRF分析儀,儀器,設備的詳細信息

/*110922_中文版_新中間頁_中間_300*250*/ var cpro_id = 'u620430'; 采用國際上先進的由美國生產(chǎn)的半導體制冷的新型探測器，電制冷，無需液氮制冷，可常溫保存，使用方便。同時這款探測器內(nèi)置信噪比增強器，提高了儀器和檢出下限，金屬的有害物質(zhì)檢出限比原有探測器高出近5倍?？捎糜谕婢甙踩珯z測。 技術指標※. 測量元素:從硫至鈾等 75 種元素※. 元素含量分析范圍:1ppm-99.99%※. RoHS 指令規(guī)定的有害元素（限 Cd/Pb/Cr/Hg/Br)※. 測量時間: 60-300s※. 能量分辨率為： 155±5eV※.  測量: < 0.05%※. 高壓：5-50kV※. 管流：50-1000uA※. 溫度適應范圍： 15-30℃※. 相對濕度：≤70％※. 儀器功率：≤90瓦※. 電源：交流 220±5V（建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源）※. 超大樣品腔，尺寸Φ450×90mm※. 可同時分析24個元素※. 重量：110kg 配置移動樣品平臺加強的金屬元素感度分析器放大電路信噪比增強器（SNE）計算機、噴墨打印機自動選擇濾光片多種準直器自動自由切換三重安全保護模式相互獨立的基體效應校正模型多變量非線性回歸程序樣品腔上蓋自動升降軟件定位樣品平臺小 聯(lián)系方式聯(lián)系人：李先生電話：傳真：郵箱：ty.