| 品牌 | I-33C 集成電路測試儀 | 型號 | I-33C 集成電路測試儀 |
| 測量范圍 | 集成電路測試儀 | 測量 | 集成電路測試儀 |
| 產(chǎn)品用途 | 集成電路測試儀 |
*器件好壞判別：當(dāng)不知被測器件的好壞時，儀器可判斷其好壞。 可 測 器 件（1300多種） 1. CMOS40系列：103種。
*器件型號判別：當(dāng)不知被測器件型號時，儀器可依據(jù)其邏輯功能來判斷其型號。
*器件老化測試：當(dāng)懷疑被測器件的穩(wěn)定性時，儀器可對其進(jìn)行連續(xù)老化測試。
*器件代換查詢：儀器可顯示有無邏輯功能一致、引腳排列一致的器件型號。
*內(nèi)部RAM數(shù)據(jù)修改：I-33C可從鍵盤對自己內(nèi)部RAM 中的數(shù)據(jù)進(jìn)行隨機(jī)修改。
* EPROM、EEPROM器件讀入：I-33C可將64K以內(nèi)的EPROM、EEPROM器件內(nèi)的數(shù)據(jù)進(jìn)行讀入
并保存。
* EPROM、EEPROM器件寫入：I-33C可將內(nèi)部RAM中的數(shù)據(jù)寫入到64K以內(nèi)的EPROM、EEPROM
器件中，并自動校驗。
2. CMOSMC140系列：103種。
3. CMOS45系列：60種。
4. CMOSMC145系列：60種。
5.光耦合器系列：133種。
6. TTL74/54系列：714種。
7. TTL75/55系列：82種。
8. 數(shù)碼管系列： 0.5吋共陽[001]；共陰[002]；0.3吋共陽[003]；共陰[004]；0.7吋共陽[005]；共陰[006]。
10. EEPROM系列：01
11. EPROM系列：12
12. 微機(jī)外圍電路系列： Z8OC(8O2)
13. 常用單片機(jī)系列：
14. 其他系列： 3 446MC1413(2003) MC1416(2004) MC14160(40160) DG201 MC14161(40161) MC14162(40162) MC14163(40163) TIL308 MC14189(75189) 2902(324) 8T26(826) AD7506
