JHRL-502型法蘭式智能雷達物位計：
物位計是對物料高度進行連續(xù)的檢測或只對物料高度是否到達某一位置進行檢測的一種檢測儀器。本產(chǎn)品采用的非接觸式測量，新的微處理技術(shù)和軟件，可以準確的測量復(fù)雜工況及有虛假回波場合的物位。不受噪音、蒸汽、粉塵、真空等工況和介質(zhì)密度、粘稠度及溫度變化的影響，是真正智能、的測量儀器。
一、應(yīng)用范圍：
適宜各種過程容器的腐蝕性和非腐蝕性的液體、漿料及固體。例如：水液儲罐，酸堿儲罐，漿料儲罐，各種儲油罐，固體顆粒等。
二、工作原理：
雷達物位計天線發(fā)射窄的微波脈沖，這個脈沖微波以在空間傳播，在被測介質(zhì)表面被反射回來，被同線接收。發(fā)射脈沖微波與接收微波的時間間隔與天線到被測介質(zhì)表面的距離成正比。JHRL系列雷達物位計采用一種的相關(guān)解調(diào)技術(shù)，可以準確識別發(fā)射微波與接收微波的時間間隔，從而計算出天線到被測介質(zhì)表面的距離和物位。
三、技術(shù)參數(shù)：
測量范圍：20米
過程連接：法蘭
介質(zhì)溫度：-40-150℃
過程壓力：-1.0-20bar
重 復(fù) 性：± 2mm
精 度：< 0.1%
爆等級：Exia II C T6
護等級：IP67
信號輸出：4…20mA/HART(兩線制)
