| 類型 | 光學顯微鏡 | 品牌 | 上海光學 |
| 型號 | 15J |
15J測量顯微鏡
上海光學
型號：15J
一、15J測量顯微鏡的用途：
測量顯微鏡是光學計量儀器的一種，它的結構簡單，操作方便，適用范圍廣，用途如下：
1、直角座標中測定長度，例如測定孔距基面距離，刻線距離，刻線寬度，鍵槽寬度，狹縫寬度通孔圓直徑等等。
2、轉動度盤測定角度，例如對刻度盤，樣板，量規(guī)，鉆孔模板及幾何形狀復雜的件進行角度測量。
3、用作觀察顯微鏡，以比較檢查工作表面光潔度，鑒定冶金工業(yè)的礦石標本，檢定印刷照相制板，檢驗紡織纖維等。
二、15J測量顯微鏡規(guī)格：
物鏡 目鏡 顯微鏡放大倍數(shù)
2.5X 10X 25X
10X 10X 100X
三、15J測量顯微鏡工作臺讀數(shù)裝置及主要規(guī)格：
x軸移動測量范圍：50 mm
y軸移動測量范圍：13mm
測微器分度值：0.01mm
測量臺轉動范圍：不限
測量臺刻度盤分度范圍：0-360度
測量臺刻度盤的分度值：1度
測量臺刻度盤游標讀數(shù)示值：6分
測量：儀器示值誤差（5+L/15）微米
儀器示值誤差：包括測量誤差與儀器系統(tǒng)誤差
注：L為被測工件長度（mm）
儀器主要尺寸：測量臺與物 鏡間之距離80mm，測量工作臺直徑距離120mm
儀器外形尺寸：325*262*220mm
重量：約10.6KG
