|
用于模擬產(chǎn)品在正常存貯或工作情況下的高溫環(huán)境對產(chǎn)品的影響,適用于電子元件作為品管工程的性測試設(shè)備用于測試電工、電子及其他非易燃易爆物品的高溫性能的試驗及電工電子產(chǎn)品(包括元件、設(shè)備及其它產(chǎn)品)的高溫烘烤。
| |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 相關(guān)產(chǎn)品 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||

掃一掃
進入手機店鋪
掃一掃
進入手機店鋪
|
用于模擬產(chǎn)品在正常存貯或工作情況下的高溫環(huán)境對產(chǎn)品的影響,適用于電子元件作為品管工程的性測試設(shè)備用于測試電工、電子及其他非易燃易爆物品的高溫性能的試驗及電工電子產(chǎn)品(包括元件、設(shè)備及其它產(chǎn)品)的高溫烘烤。
| |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 相關(guān)產(chǎn)品 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||