ARC-MET8000光譜儀是在實(shí)驗(yàn)室用光譜儀的基礎(chǔ)上研制而成的小型化光譜儀，既可在實(shí)驗(yàn)室用又滿足了現(xiàn)場分析需要，而且在現(xiàn)場條件下仍保持很高的實(shí)驗(yàn)室。
該儀器體積小、重量輕、操作簡便、準(zhǔn)確快捷，可用于現(xiàn)場檢測和時(shí)效分析，可以代替濕法分析完成金屬材料中各元素含量的定量分析
測量原理
當(dāng)金屬被能量激發(fā)時(shí)，原子的殼層電子會(huì)被激發(fā)到較級(jí)的外層軌道上。在條件下，它從級(jí)躍遷到級(jí)就會(huì)發(fā)出光子，發(fā)出特征譜線。
各種元素都有不同的特征譜線。這些譜線經(jīng)過光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行分光、色散成按波長排序的一系列連續(xù)光譜、再經(jīng)過光電轉(zhuǎn)換元件把光信號(hào)直接轉(zhuǎn)換為電信號(hào)。后計(jì)算機(jī)系統(tǒng)就可以通過計(jì)算某元素特征譜線的強(qiáng)度來確定元素的百分含量了。
光譜儀的組成
主機(jī)
Ⅰ計(jì)算機(jī)控制
Ⅱ測量計(jì)算系統(tǒng)
Ⅲ電源及穩(wěn)壓系統(tǒng)
VI外圍輔助系統(tǒng)（結(jié)果輸出，氬氣分配等〕 探頭系統(tǒng)
Ⅰ光源和激發(fā)室
Ⅱ分光系統(tǒng)
Ⅲ光電轉(zhuǎn)換系統(tǒng)
以上三部分光學(xué)系統(tǒng)集中在探頭內(nèi)，從而避免了通過光纖把光學(xué)信號(hào)傳輸?shù)街鳈C(jī)中的光學(xué)信號(hào)損失，充分測量。這也是其它便攜式光譜儀所不能做到的。 氬氣空氣兩用
更換方便
空氣模式下也可分析碳。 方便的探頭操作
探頭上有顯示屏和操作鍵，可進(jìn)行快速操作，如打印、儲(chǔ)存、切換測量模式等，操作員在遠(yuǎn)離主機(jī)時(shí)操作（如操作員可進(jìn)入到鍋爐中檢測）。 光源和激發(fā)室
開始
引弧
融化
蒸發(fā)
激發(fā)
發(fā)射光譜
分光系統(tǒng)
主要光學(xué)元件，起弧后的金屬弧光通過一狹縫，再經(jīng)過透鏡、光闌狹縫等，到達(dá)激光平面全息光柵，該光柵對(duì)接收到的金屬弧光進(jìn)行分光色散，產(chǎn)生由各元素特征譜線組成的連續(xù)光譜。
PDA的優(yōu)勢
光電轉(zhuǎn)換系統(tǒng)
通過光電轉(zhuǎn)換元件把各元素的特征譜線轉(zhuǎn)換成電信號(hào)，即記錄譜線的強(qiáng)度。后通過計(jì)算機(jī)與校準(zhǔn)曲線相比較，并利用羅馬金—賽伯公式進(jìn)行計(jì)算得到各元素的準(zhǔn)確百分含量。 ARC－MET8000的特點(diǎn)
在傳統(tǒng)的光電直讀光譜儀中，第Ⅲ分部均采用體積較大的光電管或CCD檢測器作為光電轉(zhuǎn)換元件。而ARC-MET8000則采用體積很小光學(xué)象素陣列檢測器—PDA（0.5英寸）來代替光電管，這是對(duì)傳統(tǒng)光電直讀光譜儀領(lǐng)域的一個(gè)重大改進(jìn)。
在PDA檢測器中，致密排列的8192個(gè)象素（通道），此時(shí)像傳統(tǒng)的固定通道式設(shè)計(jì)中那樣只能獲得個(gè)別特征譜線，而是把該波長范圍內(nèi)（178納米～340納米）的元素的特征譜線獲得進(jìn)行分析（全譜測量），使得用同一臺(tái)直讀光譜儀可以分析多種基體，擴(kuò)大了分析范圍。 C 、 S 、 P 的測量
該P(yáng)DA探測器覆蓋了包括C 、 S、P等元素的特征譜線，從而用同一套光學(xué)硬件就可方便地分析鋼中的C 、 S、P含量；
每一分析元素都可以自由選擇分析線（5條）和參考線（5條），地扣除了基體元素的影響，大大了分析的靈和準(zhǔn)確性。
與CCD相比，PDA探測器對(duì)遠(yuǎn)紫外波譜敏感性大大了，更適用于各種元素特征譜線的分析，同時(shí)也消除了光電培增管帶來的暗電流的影響，了儀器的長期穩(wěn)定性。
緊湊的光學(xué)設(shè)計(jì)
光學(xué)系統(tǒng)集中在探頭內(nèi)，主機(jī)與探頭之間無光導(dǎo)纖維傳輸光強(qiáng)信號(hào)，從而避免光學(xué)信號(hào)的衰減，測量，這也是其它便攜式光譜儀所不能做到的。 光纖信號(hào)的損失
發(fā)射光譜強(qiáng)度 接收到強(qiáng)度 的光路設(shè)計(jì)
Flat field holographic gratingFull spectrum recording and availability
Flat field holographic grating
Wavelength range 185-370 nm, SP option: Wavelength range
175-370 nm
8192 element PDA 性能指標(biāo)
可定量分析Fe,Ni,Al,Cu,Zn,Ti,Co,Mg基體材料(用戶可選)其中的各種元素。
可以分析S, P以及不銹鋼中的C
當(dāng)碳含量為0.03%時(shí)，可0.002%-0.003% 的測量。
計(jì)量檢定
早在1996年次獲得技術(shù)監(jiān)督局標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)研究中心計(jì)量檢定通過的便攜式光譜分析儀。 現(xiàn)場適用性及標(biāo)準(zhǔn)
有接地裝置、過濾和密封裝置,高壓、粉塵、紫外線及射頻輻射對(duì)人體的傷害。
Metorex已于1993年次獲得ISO9001質(zhì)量, 生產(chǎn)的分析儀器已獲歐洲電工委組織在標(biāo)準(zhǔn)，環(huán)境標(biāo)準(zhǔn)（水、塵、沖擊、耐高低溫等）及電磁干擾標(biāo)準(zhǔn)等方面的。 應(yīng)用領(lǐng)域
石油化工
電站電廠
鍋爐壓力容器
航空航天
船舶
檢測公司
制造業(yè)
冶金 | 
