光學結構 

反射 : d/8;SCI ( 鏡面光包含 )/SCE ( 鏡面光不包含 ) 可切換 ; 

d/8 光學結構合 ISO 和 DIN 標準 ; 

d/0 之光學結構也合 CIE 和 ASTM 標準 穿透 : d/0. 

偵測器 

硅光電二管（ 40 對組件） 

測量波長范圍 

360 到 740nm 每間隔 10nm 

度 

反射率從 0 到 200% Resolution: 0.01%    

光源 

脈沖氙弧燈（× 4 ）  

測量時間 

大約 1.5 秒 . 

測量間隔時間 

4 秒，當測量 SCI/SCE 時 

UV 光調(diào)整 / 過濾 

瞬時數(shù)字化UV調(diào)整和 400nm&420nm 截斷 

穿透測量之樣品 

薄片 , 色板 , 或 液體 ( 裝在容器中 ) 厚度不過 50mm 

再現(xiàn)性 

光譜反射率 : 標準偏差 ≦ 0.1% 

色差值 : 標準偏差Δ E*ab ≦ 0.02 

( 測量條件 : 執(zhí)行校正后測量校正白板 , 測 30 次每次間隔 10 秒 ) 

機臺交換性 (L) 

平均Δ E*ab 0.15 基于 12 BCRA Series Ⅱ 色板測量值與標準機臺比較 . 

溫度影響 

光譜反射率 : ≦&plun; 0.10%/ ℃ 色差值 : Δ E*ab≦ 0.05/ ℃ 

通訊接口 

RS-232C 

電源 

AC 120V/230V 50/60Hz 

操作溫度 / 濕度范圍 

13 to 33 ℃ ; 低于 80% 相對濕度 (at 33 ℃ 無冷凝 ) 

儲存溫度 / 濕度范圍 

0 to 40 ℃ ; 低于 80% 相對濕度 (at 33 ℃ 無冷凝 ) 

體積 (W × H × D) 

244 × 208 × 378mm （ 9-5/8 × 8-3/16 × 14-7/8inch. ） 

重量 

12kg (26-7/16 lb.) 

標準配置 

校正白板 CM-A103; 目標罩 ( ψ 4mm)CM-A107; 目標罩 ( ψ 8mm)CM-A106 ；目標罩 ( ψ 25.4mm) CM-A105; 點校正盒 CM-A104; 附件盒 CM-A109; 變壓器 AC-A12; RS-232C 通訊線 CM-A52 

塵罩； Unit Driver 軟盤