Hand held measuring head 10°/ 10°
手持式10°/10° 反射測量頭
10°/10° 反光測量頭設計用於反射及鍍膜及透明樣辦顏色,特別適用於測量低反射鍍膜如顯示器、玻璃及薄膜。低層反射測量都可用,背面反射是大量被壓制,10°/10° 反光測量頭是以光纖連接至光譜儀模組,直接放於感光底層上,鹵燈用你光源,樣辦以10°照著,由鹵燈透射出來的光線傳至反射測量頭及樣辦的反射光被引導至光學光纖線上。
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10°/10° 反光測量頭設計用於反射及鍍膜及透明樣辦顏色,特別適用於測量低反射鍍膜如顯示器、玻璃及薄膜。低層反射測量都可用,背面反射是大量被壓制,10°/10° 反光測量頭是以光纖連接至光譜儀模組,直接放於感光底層上,鹵燈用你光源,樣辦以10°照著,由鹵燈透射出來的光線傳至反射測量頭及樣辦的反射光被引導至光學光纖線上。