GT110 LED/LED Wafer Optic-Electrical Test System 控制系統(tǒng)采用工業(yè)控制計(jì)算機(jī)架構(gòu)，搭配分光光譜議量測(cè)色度和波長(zhǎng)，視函數(shù)光探測(cè)器量測(cè)光強(qiáng)度與一組可精密控制的電壓電流電源及數(shù)字電壓電流表； 可量測(cè)LED的相關(guān)光學(xué)與電性參數(shù),并可作自動(dòng)極性判斷;GT110之人機(jī)接口軟件交互性強(qiáng)操作簡(jiǎn)單;GT110可與任何自動(dòng)測(cè)試分類機(jī)聯(lián)機(jī);提供高穩(wěn)定快速之測(cè)試。 功能特性 ⊙可量測(cè)波長(zhǎng) λ=200～1100nm，光強(qiáng)度1v=0～100000mcd CIE視函數(shù)探測(cè)器 ⊙采用獨(dú)特的白光量測(cè)方法和光學(xué)器件，更先進(jìn)的白光分色技術(shù) ⊙可測(cè)試共陰或共陽(yáng)之任何封裝，單腳單晶、雙腳雙晶、三腳雙晶之SMD或Lamp封裝 ⊙量測(cè)標(biāo)準(zhǔn)可追溯至CIE127-1997、Instrument Systems、NEST和Keithley ⊙可選擇積分球、函數(shù)光探測(cè)器或分光光譜議等光學(xué)量測(cè)感應(yīng)裝置 ⊙實(shí)時(shí)CIE坐標(biāo)圖及落點(diǎn)顯示 ⊙16位恒流恒壓和數(shù)字電表量之分辨率 ⊙電性量測(cè)電路采用Kelvin法，可避免接觸電阻和線阻造成之測(cè)量誤差 ⊙完善的報(bào)表打印和數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)系統(tǒng) ⊙全系列LED測(cè)試系統(tǒng)解決方案，采用PC-based裝置，提供快速靈活之自動(dòng)測(cè)試和人機(jī)交互接口 ⊙可用戶任意定義之電壓電流源值，之測(cè)試項(xiàng)目上限與下限，之任意安排量測(cè)之輸出BIN位 ⊙快捷的分級(jí)設(shè)定功能 2、測(cè)試規(guī)格 電流-電壓量測(cè)： 3、電流源范圍：0～200mA 電源源：±0.1%/16位 ±6μA 電壓源范圍：0～25V 電壓源：±0.05%/16位 ±0.38mV 4檔或程控量測(cè)增益：0.1/0.5/1.0/10.0 電壓量測(cè)范圍：0～±100V/0～±20V/0～±10V/0～±1V 電壓量測(cè)：±0.1%±2mV 4、電壓源范圍:0～50V 電流源范圍:0～1mA 4檔可程控量測(cè)增益:0.1/0.5/1.0/10.0 電壓量測(cè)范圍:0～±100V/0～±20V/0～±10V/0～±1V 電流量測(cè)范圍:±0.1%0.03μA 5、光強(qiáng)度量測(cè): 6、范圍:0～100000mcd :±2% 重復(fù)性:±0.5% 7、顏色量測(cè): 8、光譜儀/探測(cè)器類型:PC2000-ISA/Sony Silicon CCD,2048 Pixels 波長(zhǎng)范圍:350～1100nm/200～1100mm 光譜暴光時(shí)間:4ms～65s 光譜分辨率:1.0mm 像素點(diǎn)分辨率:0.3nm 色度坐標(biāo)分辨率:0.001 9、操作系統(tǒng)支持: Microsoft Windows2000 and XP 10、量測(cè)項(xiàng)目 11、Forward Voltage(正向電壓)Vf Forward Leakage Current(正向電流)lf Reverse Breakdown Voltage(反向崩潰電壓)Vz Reverse Leadage Current(反向漏電電流)lr Thyristor(閘流體效應(yīng))Thy Reverse Voltage(反向電壓)Vr Luminous Lntensity(光強(qiáng)度)Lv Total Luminous Flux(全光通量) φv---積分球 Peak Wavelength(峰值波長(zhǎng))λp Dominant wavelength(主波長(zhǎng))λd CIE Chromaticity Coordinates(色度坐標(biāo))(x,y) Full Width Half Maximun(FWHM光譜功率(能量)分布) Correlated Color Temperature(相關(guān)色溫) Purity(純度) Color Rendering Index ForWhite Light LED(顯色指數(shù)) 12、系統(tǒng)組成 13、PC-base(內(nèi)有可控電流源電壓源控制板,分光光譜儀,數(shù)字I/O卡) 還SMA905接頭之光纜 光學(xué)測(cè)量頭: a.含有SMA905光纜接頭、分光棱鏡與視覺(jué)函數(shù)光探測(cè)器的光學(xué)頭 b.全光通量量測(cè)之積分球 CRT Monitor 自動(dòng)分類測(cè)試機(jī)接口：數(shù)字I/O卡提供TTL電平之SOT，EOT和BIN數(shù)信號(hào)以上是LED光電測(cè)試系統(tǒng)的詳細(xì)信息，如果您對(duì)LED光電測(cè)試系統(tǒng)的價(jià)格、廠家、型號(hào)、圖片有什么疑問(wèn)，請(qǐng)聯(lián)系我們獲取LED光電測(cè)試系統(tǒng)的新信息。