產(chǎn)品介紹     第三代3DFAMILY X射線熒光分析儀，采用世界上先進的硅SIPIN探測器（分辨率為150ev），實現(xiàn)了無液態(tài)氮檢出器下高靈敏度的檢測功能。配備自動切換的濾光片及透射式X射線球管，程度地縮小了X射線源與被測物體的間距，從而在較低的電壓下達到同樣的激發(fā)效率，同時減少了漫射光的干擾，大大地提高了靈敏度和讀數(shù)的準確性，重復(fù)性。 產(chǎn)品特點1、在測定微量成分時，由于X射線管的連續(xù)X射線所產(chǎn)生的散射線會產(chǎn)生較大的背景，致使目標峰的觀測比較困難。為了降低或消除背景和特征譜線等的散射X射線對高靈敏度分析的影響，此熒光分析儀配置了4種可自動切換的濾光片，有效地降低了背景和散射X射線的干擾，調(diào)整出具感度的輻射，進一步提高了S/N的比值，從而可以進行更高靈敏度的微量分析。2、X射線管的連續(xù)X射線所產(chǎn)生的散射線會產(chǎn)生較大的背景，軟件可自動過濾背景對分析結(jié)果的干擾，從而能確保對任何塑料樣品的進行快速準確的分析。3、當某些元素的電子由高等級向低等級越遷時釋放的能量相近，會使此時譜圖的波峰重疊在一起，由此產(chǎn)生了重疊峰。SCIENSCOPE自行開發(fā)的軟件自動剝離重疊峰，確保了元素分析的正確性。4、逃逸峰：由于采用的是Si針半導(dǎo)體探測器，因此當X射線熒光在通過探測器的時候，如果某種元素的含量較高(能量也會相應(yīng)的較高)，其被Si吸收的概率也就越大。此時，光譜圖中在該元素的能量值減去Si能量值的地方回產(chǎn)生一個峰，此峰即為逃逸峰。5、在電壓不穩(wěn)的情況下，可對掃描譜圖的漂移進行自動追蹤補償。 技術(shù)參數(shù)分析原理能量色散X射線熒光分析法分析元素Si～U（Cd/Pb/Cr/Hg/Br高型）Na～U(任選：φ1.2mm/φ0.1mm切換方式型）檢出下限Cd/Pb/Hg/Br/Cr≤5ppm樣品形狀460×380mm(高150mm)樣品塑料/金屬/紙/涂料/油墨/液體樣品室氣氛大氣X射線管靶材Rh管電壓50KV管電流1mAX射線照射徑1/3/5mm防護＜0.1mR/Hr (輻射低于電腦屏幕）檢測器以上是X射線熒光分析儀的詳細信息，如果您對X射線熒光分析儀的價格、廠家、型號、圖片有什么疑問，請聯(lián)系我們獲取X射線熒光分析儀的新信息。