- 品牌/商標(biāo)：OTSUKA
- 企業(yè)類型：貿(mào)易商
- 新舊程度：全新
- 原產(chǎn)地：日本Japan
低相位差高速檢查機(jī) RE-100
? 產(chǎn)品特色：
(0.1秒以下的高速同時量測)
(此系統(tǒng)為特殊規(guī)格)
? 測量原理：
RE-100，系采用光結(jié)晶像素與CCD感光組件所構(gòu)成的偏光檢測儀。搭配帶有穿透率特性的各種偏光組件，可以高速同時進(jìn)行相位差與光學(xué)軸的量測。
CCD感光組件會自動擷取經(jīng)過偏光后所呈現(xiàn)的畫面進(jìn)行解析。相較以往，不需要再使用任何的驅(qū)動組件來尋找偏光后的受光強(qiáng)度。不但可提高再現(xiàn)性的、更具備長時間使用的安定性。
? 測量原理：
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相位差（ρ[deg.],Re[nm]） |
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光學(xué)軸方位角（θ[deg.]） |
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橢圓率（ε）,方位角（γ） |
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三次元屈折率（NxNyNz） |
? 應(yīng)用范圍：
■ 相位差膜、偏光膜、橢圓膜、視野角改善膜、各種機(jī)能性薄膜、
■ 樹脂、玻璃等透明帶有低相位差之樣品(殘留應(yīng)力)
? 規(guī)格樣式：
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樣品尺寸 |
小10×10mm ～ 100×100mm |
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量測波長 |
550nm （標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格）*1 |
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相位差量測范圍 |
約0nm ～ 約10μm |
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相位差量測 |
0.05nm （3σ）*2 |
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光學(xué)軸量測 |
0.05°（3σ）*2 |
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解析組件 |
偏光檢測儀 |
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量測口徑 |
2.2mm×2.2mm |
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通訊接口 |
100W 鹵素?zé)艋?/SPAN>LED光源 |
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尺寸 |
300(W) × 560(H) ×430（D) mm |
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重量 |
約 20 kg |
*1可選擇其它波長 *2量測水晶波長板之(約55nm，2枚型)
? 測量實(shí)例：
偏光檢測儀在生產(chǎn)在線的應(yīng)用 (In-line Process)
■ USB傳輸，可適用于多種環(huán)境的架設(shè)。
■ 超高速量測，適用于生產(chǎn)線中的實(shí)時監(jiān)控。
■ 可搭配復(fù)數(shù)偏光檢測儀，同時進(jìn)行多點(diǎn)位、多角度(Rth)量測。
