- 產品品牌:
- 榮珂
- 產品型號:
- RK-UTX650
簡單介紹 x熒光測厚儀 可為電鍍客戶提供更佳的X熒光測量方案,X射線從上向下照射樣品,不同大小形狀的樣品更方便放置及測量。
簡單介紹
x熒光測厚儀 可為電鍍客戶提供更佳的X熒光測量方案,X射線從上向下照射樣品,不同大小形狀的樣品更方便放置及測量。
x熒光測厚儀的詳細介紹
x熒光測厚儀 可為電鍍客戶提供更佳的X熒光測量方案,X射線從上向下照射樣品,不同大小形狀的樣品更方便放置及測量。
x熒光測厚儀的手動操作系統(tǒng)為用戶提供方便可靠的鍍層測厚、鍍液分析、簡單元素分析或貴金屬分析方案。標準配置為20倍彩色CCD系統(tǒng)用于樣品圖象觀察;簡易手動樣品臺,Z軸升降調節(jié),操作簡單;單準直器及多準直器可選,激光對焦及定位系統(tǒng),二次濾光片多種可選方式及封氣式正比計數器。
優(yōu)特完善的X熒光分析軟件基于基本參數法(FP法)或校正曲線法,確保了完美的測量結果。儀器易于操作,軟件界面更具人性化。
元素含量
分析指標
分析范圍:100PPM-99.99% 準確度:相對誤差5%以內
精密度:相對標準差5%以內 檢出限:100PPM
測試時間
鍍層測厚:10-100秒
元素分析:60-300秒
X光管
50W(4-50KV 0 -1.0mA)標配
樣品臺
簡易手動樣品臺,Z軸升降調節(jié),操作簡單
探測器
正比計數器
測試軟件
基本參數法
濾光器
二次濾光
重量
100千克
準直器
Standard configuration: 1 collimator (Ф3mm / Ф1mm /
Ф0.5mm / Ф0.2mm /Ф0.1mm); Multi- collimators Options
軟件
鍍層測厚軟件,元素分析軟件
樣品觀察
CCD高彩色攝像頭
配套
標準液體測量杯
對焦系統(tǒng)
鐳射對焦
穩(wěn)壓系統(tǒng)
UPS穩(wěn)壓電源
測量方向
從上向下
電腦
聯(lián)想電腦
可測元素
K到U
打印機
彩色噴墨打印機
的詳細介紹
x熒光測厚儀的手動操作系統(tǒng)為用戶提供方便可靠的鍍層測厚、鍍液分析、簡單元素分析或貴金屬分析方案。標準配置為20倍彩色CCD系統(tǒng)用于樣品圖象觀察;簡易手動樣品臺,Z軸升降調節(jié),操作簡單;單準直器及多準直器可選,激光對焦及定位系統(tǒng),二次濾光片多種可選方式及封氣式正比計數器。
優(yōu)特完善的X熒光分析軟件基于基本參數法(FP法)或校正曲線法,確保了完美的測量結果。儀器易于操作,軟件界面更具人性化。
分析指標
精密度:相對標準差5%以內 檢出限:100PPM
元素分析:60-300秒
Ф0.5mm / Ф0.2mm /Ф0.1mm); Multi- collimators Options
x熒光測厚儀 可為電鍍客戶提供更佳的X熒光測量方案,X射線從上向下照射樣品,不同大小形狀的樣品更方便放置及測量。
x熒光測厚儀的手動操作系統(tǒng)為用戶提供方便可靠的鍍層測厚、鍍液分析、簡單元素分析或貴金屬分析方案。標準配置為20倍彩色CCD系統(tǒng)用于樣品圖象觀察;簡易手動樣品臺,Z軸升降調節(jié),操作簡單;單準直器及多準直器可選,激光對焦及定位系統(tǒng),二次濾光片多種可選方式及封氣式正比計數器。
優(yōu)特完善的X熒光分析軟件基于基本參數法(FP法)或校正曲線法,確保了完美的測量結果。儀器易于操作,軟件界面更具人性化。
| 元素含量 分析指標 |
分析范圍:100PPM-99.99% 準確度:相對誤差5%以內 精密度:相對標準差5%以內 檢出限:100PPM |
測試時間 | 鍍層測厚:10-100秒 元素分析:60-300秒 |
| X光管 | 50W(4-50KV 0 -1.0mA)標配 | 樣品臺 | 簡易手動樣品臺,Z軸升降調節(jié),操作簡單 |
| 探測器 | 正比計數器 | 測試軟件 | 基本參數法 |
| 濾光器 | 二次濾光 | 重量 | 100千克 |
| 準直器 | Standard configuration: 1 collimator (Ф3mm / Ф1mm / Ф0.5mm / Ф0.2mm /Ф0.1mm); Multi- collimators Options |
軟件 | 鍍層測厚軟件,元素分析軟件 |
| 樣品觀察 | CCD高彩色攝像頭 | 配套 | 標準液體測量杯 |
| 對焦系統(tǒng) | 鐳射對焦 | 穩(wěn)壓系統(tǒng) | UPS穩(wěn)壓電源 |
| 測量方向 | 從上向下 | 電腦 | 聯(lián)想電腦 |
| 可測元素 | K到U | 打印機 | 彩色噴墨打印機 |






