HP4191A射頻阻抗分析儀

產(chǎn)品簡介

　　主要用途 
　　測(cè)試材料的阻抗Z，導(dǎo)納Y，電感L，電阻R，介電損耗D，品質(zhì)因數(shù) 
　　射頻阻抗計(jì)量器具檢定系統(tǒng) 
　　VerificationSchemeofRF 
　　ImpedanceMeasuringInstruments　JJG2011-87 
　　代替：高頻阻抗量值傳遞系統(tǒng) 
　　射頻阻抗計(jì)量器具檢定系統(tǒng) 
　　本檢定系統(tǒng)適用于射（高）頻集總參數(shù)阻抗計(jì)量器具（即檢測(cè)20kHz-1GHz頻段的R，L，C元件和材料電磁特性所有物儀器設(shè)備和量具、標(biāo)準(zhǔn)件），規(guī)定了射頻（習(xí)慣上也稱高頻）集總參數(shù)阻抗量的量值溯源途徑、傳遞程序及計(jì)量器具的檢定方法。 
　　一、計(jì)量基準(zhǔn)器具 
　　1、高頻集總參數(shù)阻抗的國家計(jì)量基準(zhǔn)器具是指用于復(fù)現(xiàn)和保存20kHz-1000GHz高頻阻抗量值（包括電介質(zhì)材料的復(fù)數(shù)介電常數(shù)和軟磁材料的復(fù)數(shù)導(dǎo)磁率）的計(jì)量設(shè)備和量具。 
　　2、射（高）頻集總參數(shù)阻抗計(jì)量基準(zhǔn)器具包括： 
　　2.1空氣介質(zhì)同軸線阻抗基準(zhǔn)，其阻抗量值由同軸線尺寸和材料電磁特性經(jīng)理論計(jì)算求得。它用以校準(zhǔn)按反射系數(shù)測(cè)量原理設(shè)計(jì)的高頻阻抗精密測(cè)量裝置。空氣介質(zhì)同軸線也是微波阻抗國家基準(zhǔn)，本檢定系統(tǒng)移用它，有利于射（高）頻、微波阻抗量值的統(tǒng)一。在（1-1000）MHz頻段，其技術(shù)指標(biāo)為： 
　　反射系數(shù)模值｜г｜：1.000±0.002；相角：±180°±0.5°。 
　　2.2高頻阻高頻阻抗精密測(cè)量裝置，它是利用從美國引進(jìn)的HP4191A高頻阻抗分析儀，經(jīng)過準(zhǔn)確度論證分析，保證高頻集總參數(shù)阻抗量的以下計(jì)量工作性能： 
　　頻率：（1-1000）MHz 
　　反射系數(shù)模值｜г｜：1.000±（0.003-0.007） 
　　相角θ：±180°±0.5°； 
　　阻抗模值｜Z｜：1Ω-10kΩ±（0.5-10）％ 
　　電容C：10pF-100nF±（0.2-10）％； 
　　電感L：10nH-100μH±（0.2-10）％ 
　　損耗：tgδ（D）0.001-0.5±＜（0.002-0.05） 
　　二、高頻集總參數(shù)阻抗標(biāo)準(zhǔn) 
　　3、集總參數(shù)阻抗標(biāo)準(zhǔn)包括： 
　　3.1高頻阻抗標(biāo)準(zhǔn)件50Ω，0Ω，0S。它們由國家基準(zhǔn)通過直接比對(duì)法傳遞量值，技術(shù)特性如下： 
　　50Ω：｜г｜≤0.0025；0Ω：殘余阻抗小于2mΩ；0S：邊緣電容值0.080pF。 
　　這些標(biāo)準(zhǔn)件用以校準(zhǔn)按電壓電流比原理設(shè)計(jì)的高頻阻抗分析儀、高頻LCR表等通用高頻阻抗測(cè)量儀器（校準(zhǔn)中還需使用直流以和低頻阻抗標(biāo)準(zhǔn)伯）。并由50Ω阻抗件組成模擬損耗件校準(zhǔn)Q值、tgδ值等標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備。 
　　3.2高頻、低頻阻抗分析儀。這些是市售商品高準(zhǔn)確度阻抗測(cè)量儀器，也用作計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備，用以定標(biāo)低準(zhǔn)確度的阻抗標(biāo)準(zhǔn)量具。其技術(shù)指標(biāo)為： 
　　頻率：20kHz-1000MHz； 
　　阻抗｜Z｜：1Ω-10kΩ±（1-20％）； 
　　電容C：10pF-100nF±（0.5-20）％； 
　　電感L：10nH-1.00μH±（0.5-20）％。