x-ray膜厚測量儀可測元素范圍：鋁(AL) –鈾(U)。
可測量厚度范圍：原子序22-25，0.1-0.8μm26-40，0.05-35μm43-52，0.1-100μm72-82，0.05-5μm。
自動測量功能：編程測量，自定測量修正，測量功能。
底材修正：已知樣品修正。
可測量厚度范圍：原子序22-25，0.1-0.8μm26-40，0.05-35μm43-52，0.1-100μm72-82，0.05-5μm。
自動測量功能：編程測量，自定測量修正，測量功能。
底材修正：已知樣品修正。
定性分析功能：光譜表示，光譜比較。
定量分析功能：合金成份，分析數(shù)據(jù)。
x-ray膜厚測量儀作為一種在線測量厚度的精密儀器，在電鍍工藝生產(chǎn)中占有重要的，直接影響到電鍍產(chǎn)品的質(zhì)量。鍍層控制系統(tǒng)接收到膜厚儀提供的實事厚度偏差信號對物料擠出機、物料加熱器進行控制。信號的準確和靈敏程度直接影響了鍍層產(chǎn)品厚度的。
x射線膜厚儀通過吧高壓直流電壓加在x射線的兩，產(chǎn)生不同能級的x射線穿過被測物，比較被測物兩端x射線的強度來進行在線厚度測量。
