儀器簡介：
ELEMENT GD是輝光放電離子源與高分辨質(zhì)譜儀的結(jié)合，是直接分析導(dǎo)體材料的工具。幾乎所有在固體樣品中出現(xiàn)的元素包括碳、氧和氮都可被檢測和定量。許多元素可低至ppt(十億分之一)水平。

ELEMENT GD是專門用于高純金屬制造以及相關(guān)工業(yè)，如：
● 微電子行業(yè)
- 銅、鋁、濺射靶材料
● 航空宇宙工業(yè)
- 鋁、不銹鋼、合金
● 醫(yī)學(xué)/藥學(xué)/食品行業(yè)
- 不銹鋼、合金
● 核工業(yè)
- 鈾、核燃料



技術(shù)參數(shù)：
ELEMENT GD - 有能力做得更多：5分鐘內(nèi)分析50個元素，低至ppb量級



主要特點(diǎn)：
● 快流速、高能量的輝光放電池
- 由于高濺射速度而縮短了分析時間
- 杰出的靈敏度
● 體現(xiàn)了雙聚焦質(zhì)譜的技術(shù)發(fā)展水平
- 無與倫比的信噪比源自于高離子傳輸率和低背景，檢測限可達(dá)亞ppb級
- 高水平的選擇性和準(zhǔn)確度取決于高分辨：一個無可爭辯分析結(jié)果的先決條件
● 大于12個數(shù)量級的檢測范圍
- 在掃描中檢測痕量和基體元素，得益于大于12個數(shù)量級線性動態(tài)范圍的自動檢測器
- 直接測定基體元素用于離子束比值(IBR)定量
● 藝術(shù)級的軟件套件用于提高生產(chǎn)力和簡單操作
- 所有參數(shù)計(jì)算機(jī)控制
- 完全自動化調(diào)諧、分析和數(shù)據(jù)采集
- LIMS連接自動數(shù)據(jù)傳輸
- 遠(yuǎn)程控制和診斷
- Microsoft® Windows® XP操作系統(tǒng)
● 覆蓋元素周期表的多種元素定量
● 在掃描中，從基體到痕量元素的檢測能力
● 深度分布曲線
● 影響直接定量的基體效應(yīng)小