HORIBA Scientific自推出智能型顯微拉曼光譜儀XploRA后受到了廣泛贊譽(yù)，現(xiàn)在HORIBA Scientific很高興向大家發(fā)布新的智能型倒置顯微拉曼光譜儀XploRA INV。

XploRA INV繼承了XploRA高自動(dòng)化和結(jié)構(gòu)緊湊占地面積小的優(yōu)勢(shì)，同時(shí)還具有倒置顯微鏡獨(dú)有的分析功能。XploRA INV 的開(kāi)放性結(jié)構(gòu)確保了倒置顯微鏡的所有附件或其它附加裝置，如微型操控器、光鑷以及細(xì)胞研究所需要的特定附件都能自由添加以及使用。XploRA INV系統(tǒng)還擁有一些特有的模塊和技術(shù)可以選擇性集成。例如HORIBA擁有的DuoScan掃描技術(shù)，該技術(shù)擁有多種工作模式，可以快速進(jìn)行拉曼光譜成像；又如新型的3D共焦快速熒光成像模塊，可以進(jìn)行超快速激光掃描成像，快速得到樣品成分分布，并迅速對(duì)感興趣的區(qū)域進(jìn)行定位。此外，XploRA INV系統(tǒng)能夠方便的和AFM聯(lián)用，進(jìn)行Raman-AFM聯(lián)合分析以及TERS(針尖增強(qiáng)拉曼光譜)分析，使得超高空間分辨率的結(jié)構(gòu)分析以及樣品表面形貌分析得以同時(shí)實(shí)現(xiàn)。

XploRA INV可以選擇性在內(nèi)部集成多至3個(gè)單頻激光器，還可以選擇通過(guò)光纖耦合其它特定激光波長(zhǎng)，從而實(shí)現(xiàn)共振拉曼或用戶其它特殊需求。

可選件和附件：XYZ三維自動(dòng)平臺(tái)；DuoScan快速掃描系統(tǒng)；SWIFT快速成像；光學(xué)顯微鏡－暗場(chǎng)、相差、微分干涉；反射/透射照明批量篩分系統(tǒng)拉曼偏振附件大樣品附件液體樣品附件冷/熱臺(tái)遠(yuǎn)程測(cè)量光纖探頭數(shù)據(jù)庫(kù)化學(xué)計(jì)量學(xué)軟件包 技術(shù)參數(shù)：1. 光譜儀：高通光率集成光譜儀2. 激發(fā)波長(zhǎng): 532 nm, 640 nm, 785 nm等3. 光譜分辨率：多種分辨率模式，可任意切換；

4. 空間分辨率：橫向好于1微米，縱向好于2微米。 
5. 探測(cè)器：1英寸1024像素高靈敏風(fēng)冷CCD

主要特點(diǎn)：
1. 整機(jī)完全自動(dòng)操作

2. 同時(shí)實(shí)現(xiàn)熒光成像與拉曼成像

3. 方便與多種技術(shù)聯(lián)用，如AFM4. 真共焦顯微光路5. 4塊光柵自動(dòng)切換，自由選擇多種光譜分辨率