IP1X試驗探棒|IP2X試驗探棒|IP3X試驗探針|IP4X試驗探針

IP1帶球試驗探棒|IEC61032圖1|Test probe A
基本簡介：
1、根據(jù)GB/T4208-2008、IEC61032:1997、IEC60529:2001及UL等相應條款制作而成。

技術參數(shù)：
1、探球直徑：50mm
2、擋板直徑：50mm
3、擋板厚度：4mm
4、手柄直徑：10mm
5、手柄長度：100mm
6、根據(jù)IEC61032圖1(Test probe A) 、GB/T4208-2008表6（位特征數(shù)字1）。

IP2試驗探棒|IEC61032圖2|Test probe B
產(chǎn)品概述：
符合GB4706、GB2099、GB4943、GB4208IPX2、GB3883圖1、IEC61032圖2試具B、IEC950圖2A、IEC60884、IEC60335、GB/T16842試具B、UL507、EN60529圖1、UL1278圖8.4等標準要求。用于防止手指觸及或防觸電檢驗的防護檢驗。

基本簡介：
1、根據(jù)GB4706.1-2005、GB2099.1-2008及相關IEC61032、UL等相應條款制作而成。

技術參數(shù)：
1、彎指直徑：12 mm
2、彎指長度：80mm（三節(jié)總長度）
3、擋板直徑：50mm
4、擋板長度：100mm
5、參考標準：GB4706.1-2005第8.1.1條、IEC61032：1997 圖2
IP3X試驗探針|IEC61032圖3|Test probe C
基本簡介：
1、根據(jù)GB/T4208-2008、IEC61032:1997、IEC60529:2001及UL等相應條款制作而成。

技術參數(shù)：
1、探棒長度：100mm
2、探棒直徑：2.5mm
3、檔球直徑：35mm
4、手柄直徑：10mm
5、手柄長度：100mm
6、根據(jù)IEC61032圖3(Test probe C) 、GB/T4208-2008表6（位特征數(shù)字3）。
7.使用方法：如圖所示，標準試驗指的關節(jié)部分不能觸及帶電部件或不能接近危險部件，并且35mm的圓擋板不能進入。
防止接近危險部件的試驗要求中，C、D型試驗探棒需帶3±0.3N N或1±0.1N推力。
注意：不帶推力產(chǎn)品請配合推拉力計使用。
8.注意事項：請不要輕易調(diào)整推力，如需調(diào)整，請使用分辨至少為0.033N儀器對C、D型試驗探棒進行校準。由于試驗探棒較為精密機械產(chǎn)品，使用時請輕拿輕放，妥善保管。
試驗探棒頂部可能會生銹，注意保養(yǎng)防護。