1.FEI ESEM(環(huán)境掃描電鏡)技術, 可在高真空、低真空和環(huán)境真空條件下對各種樣品進行觀察和分析。
2.所有真空條件下的二次電子、背散射電子觀察和微觀分析。
3.先進的系統(tǒng)結構平臺,全數(shù)字化系統(tǒng)。
4.可同時安裝能譜儀、波譜儀和EBSP系統(tǒng)。
5.可安裝低溫冷臺、加熱臺、拉伸臺等進行樣品的原位、動態(tài)觀察和分析

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1.FEI ESEM(環(huán)境掃描電鏡)技術, 可在高真空、低真空和環(huán)境真空條件下對各種樣品進行觀察和分析。
2.所有真空條件下的二次電子、背散射電子觀察和微觀分析。
3.先進的系統(tǒng)結構平臺,全數(shù)字化系統(tǒng)。
4.可同時安裝能譜儀、波譜儀和EBSP系統(tǒng)。
5.可安裝低溫冷臺、加熱臺、拉伸臺等進行樣品的原位、動態(tài)觀察和分析