日本三豐激光掃描裝置：
產(chǎn)品說明：
射外徑測定機用掃描光素可以測量於傳統(tǒng)儀器測量的工作，如易碎或彈性件，件，需保持清結(jié)的件，和在測量力作用下變形的件，透明件也可以測量。
特點：
1.每秒3200次雷射掃描可實現(xiàn)自動生產(chǎn)線上的率測量。
2.測量單位的安裝型結(jié)構(gòu)可實現(xiàn)各種測量。
3. LSM-500S專門為測量密線而設(shè)計。
4.塵/水保護級合IP-64。
5.各測量單元的光學特性屬據(jù)可儲存在被提供的ID單元。
射外徑測定機用掃描光素可以測量於傳統(tǒng)儀器測量的工作，如易碎或彈性件，件，需保持清結(jié)的件，和在測量力作用下變形的件，透明件也可以測量。
測徑 0.3-30mm
射外徑測定機用掃描光素可以測量於傳統(tǒng)儀器測量的工作，如易碎或彈性件，件，需保持清結(jié)的件，和在測量力作用下變形的件，透明件也可以測量。
訂貨編號 | 544-531 | 544-533 | 544-535 | 544-537 | 544-539 | 544 -495C |
機型 | LSM-500S | LSM-501S | LSM-503S | LSM-506S | LSM-512S | LSM-902S |
顯示器 | 544 -071C /LSM-6200 | LSM-902S/6900 | ||||
品牌 | Mitutoyo | |||||
光源 | Wave Length : 650nm，可視光半導體 | |||||
測量范圍 | 0.005 -2mm | 0.05 -10mm | 0.3 -30mm | 1 -60mm | 1 -120mm | 0.1 -25mm |
小解析值 | 0.01um | 0.01um | 0.02um | 0.05um | 0.1um | 0.01um |
重現(xiàn)性 | 0.03um | 0.04um | 0.1um | 0.36um | 0.8um | 0.05um |
在20℃直線性＊ | 0.3um | 0.5um | 1um | 3um | 6um | 0.5um |
位置誤差 | 0.4um | 0.5um | 1.5um | 4um | 8um | 0.5um |
測量領(lǐng)域 | 1x 2mm | 4x 10mm | 10x 30mm | 20x 60mm | 30x 120mm | 3x 25mm |
掃描頻率 | 3200回/秒 | 800回/秒 | ||||
使用溫度 | 0 ~ 40 C | |||||
使用濕度 | 35 ~ 85%RH (with no condensation) |
