產(chǎn)品品牌：

上海

產(chǎn)品型號：

15J

類型：

光學(xué)顯微鏡

15J測量顯微鏡
用途
測量顯微鏡是光學(xué)計(jì)量儀器之一種，它的結(jié)構(gòu)簡單，操作方便，適用范圍極廣，用途如下：
1．直角坐標(biāo)中測定長度，例如測定孔距、基面距離、刻線寬度、鍵槽寬度、狹縫寬度、通孔外圓直徑、電線電纜絕緣皮厚度等。
2．轉(zhuǎn)動度盤測定角度，例如對刻度盤、樣板、量規(guī)、鉆孔模板及幾何形狀復(fù)雜的零件進(jìn)行角度測量。
3．用作觀察顯微鏡，以比較法檢查工作表面光潔度，鑒定冶金工業(yè)的礦石標(biāo)本。檢定印刷照相制版，檢驗(yàn)紡織纖維等等。 主要規(guī)格 放大倍數(shù)：25X、100X
X軸移動測量范圍 50 mm
Y軸移動測量范圍 13 mm
測微器分度值 0.01mm
測量臺轉(zhuǎn)動范圍 不限
測量臺刻度盤分度范圍 0°-360°
測量臺刻度盤之分度值 1°
測量臺刻度盤游標(biāo)讀數(shù)示值 6’

測量
儀器示值誤差：±（5+L/15）μm
儀器示值誤差：包括測量誤差與儀器系統(tǒng)誤差
注：測量地點(diǎn)溫度變化（20±3）℃
L-被測件長度（mm）

儀器主要尺寸
測量臺與物鏡間之距離 80mm
測量工作臺直徑 120mm
儀器外形尺寸 262×220×325mm