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產(chǎn)品型號(hào)：

LSP

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高性能三維掃描探測(cè)系統(tǒng)

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  檢測(cè)設(shè)備供應(yīng)商  德國(guó)Bruker光譜儀重慶總代理 LSP-X1高性能三維掃描探測(cè)系統(tǒng)LSP-X 系列：形狀的真實(shí)再現(xiàn)! 真正的三維探測(cè)；無電機(jī)= 沒有熱源；結(jié)構(gòu)堅(jiān)固= 維護(hù)容易。新型的LSP-X1 掃描測(cè)頭，既能夠提供高測(cè)頭的精密計(jì)量工具，又能夠和TESASTAR-m 自動(dòng)分度測(cè)座完美匹配。點(diǎn)到點(diǎn)和連續(xù)掃描兩種模式都能夠全面兼容，是中等尺寸的楞邊復(fù)雜型和曲面復(fù)雜型工件的理想檢測(cè)方案。LSP-X1具有兩種吸盤，并且可以支持長(zhǎng)達(dá)220mm 以內(nèi)的各種探針。吸盤的自動(dòng)更換可以通過TESASTAR-r 自動(dòng)更換架實(shí)現(xiàn)，也可以通過專門的支架僅僅更換探針。這種磁吸測(cè)頭系統(tǒng)能夠快速和高重復(fù)性的完成更換。技術(shù)優(yōu)勢(shì):超長(zhǎng)探針允許探測(cè)工件內(nèi)部的深孔等特征。包括自動(dòng)重量平衡系統(tǒng)。 自動(dòng)探針更換功能在測(cè)量過程中執(zhí)行自動(dòng)探針更換，而不需要重新校準(zhǔn)。探針的磁力吸盤保證了快速而的更換。 具備碰撞保護(hù)功能在發(fā)生誤碰撞的情況下保護(hù)測(cè)座。使得測(cè)量系統(tǒng)的工作時(shí)間達(dá)到化，并降低了擁有成本。 LSP-X 系列: 形狀的真實(shí)再現(xiàn)!真正的三維探測(cè)接觸工件表面時(shí)，測(cè)頭會(huì)自動(dòng)沿著工件表面的法矢量進(jìn)行測(cè)量。通過線性可變微分傳感器(LVDT)探測(cè)偏差，即使使用長(zhǎng)的加長(zhǎng)桿，也可以對(duì)探針的彎曲進(jìn)行準(zhǔn)確補(bǔ)償。這一特性減少了余弦誤差，確保了更高的測(cè)量和效率，這對(duì)檢測(cè)復(fù)雜幾何體如齒輪、轉(zhuǎn)子和葉片等是至關(guān)重要的。 無電機(jī)= 沒有熱源 結(jié)構(gòu)堅(jiān)固= 維護(hù)容易  X3高性能三維掃描探測(cè)系統(tǒng)LSP-X 系列：形狀的真實(shí)再現(xiàn)! 真正的三維探測(cè)；無電機(jī)= 沒有熱源；結(jié)構(gòu)堅(jiān)固= 維護(hù)容易。 緊湊、高性價(jià)比、超高的三維固定式掃描測(cè)頭，可配置長(zhǎng)達(dá)360mm 的加長(zhǎng)桿和探針。LSP-X3 可以高速單點(diǎn)方式進(jìn)行常規(guī)測(cè)量，也可以高速掃描的方式對(duì)形狀和輪廓進(jìn)行檢測(cè)。是尺寸要求比較高的中小型箱體零件和復(fù)雜幾何零件檢測(cè)的理想配置。其自動(dòng)更換能力使得探針可由測(cè)量程序控制自動(dòng)更換，更換測(cè)頭不需要進(jìn)行重新校準(zhǔn)。測(cè)座上的磁性連接，確保探針更換快速、可靠。 LSP-X5高性能三維掃描探測(cè)系統(tǒng)LSP-X 系列：形狀的真實(shí)再現(xiàn)! 真正的三維探測(cè)；無電機(jī)= 沒有熱源；結(jié)構(gòu)堅(jiān)固= 維護(hù)容易。超高、全三維、固定式掃描測(cè)頭，可沿著定義的工件表面方位，在X，Y 和Z 三個(gè)方向同步測(cè)量。這一高承載的模擬測(cè)頭系統(tǒng)，即使在超長(zhǎng)加長(zhǎng)桿和沉重探針組的情況(長(zhǎng)800 mm，重620g)下也可保證達(dá)到極快的速度和極高的重復(fù)。LSP-X5 包括一套特有的防撞系統(tǒng)，用于測(cè)頭和探針的特別保護(hù)。LSP-X5 是完成高機(jī)械零件和復(fù)雜幾何形狀的理想工具。其自動(dòng)更換能力使得探針可由測(cè)量程序控制自動(dòng)更換，更換測(cè)頭不需要進(jìn)行重新校準(zhǔn)。測(cè)頭探針的氣動(dòng)夾緊確保更換快速、可靠。