產(chǎn)品品牌：

青量

產(chǎn)品型號：

200-300

類型：

內(nèi)徑千分尺

測量范圍：

200-300 mm

特性：

兩點(diǎn)定位，適用于盲孔和通孔的精密測量。

配有接桿可測量深孔尺寸。

獨(dú)特的結(jié)構(gòu)，測量范圍大。

硬質(zhì)合金測量面。

棘輪測力。

配有校對環(huán)規(guī)校對零位。

測量范圍：200-300mm

分度值：0.001mm

檢驗(yàn)千分尺：

一、測量面的平行度及平面度采用光學(xué)平晶進(jìn)行檢驗(yàn):

光學(xué)平面與絲桿測量面或測砧測量面貼合后，由于測量面的不平度，

使平晶與測量面之間存在空隙，從而產(chǎn)生干涉帶或干涉環(huán)，在測量面的

垂直方向每條干涉帶或干涉環(huán)所代表的平面度誤差為0.3 m.

二、測量面的平行度誤差：

測量范圍上限至100mm的千分尺兩側(cè)量面的平行度采用絲桿螺距的1/3

或1/4的光學(xué)平行平晶來進(jìn)行檢驗(yàn)，依次將光學(xué)平行平晶防入兩測量面間

轉(zhuǎn)動測力裝置。施加5-10N的力,使兩測量面出現(xiàn)的干涉環(huán)或干涉帶數(shù)目

減少至少.

測量范圍大于100mm的千分尺,測量面的平行度可用自準(zhǔn)直儀進(jìn)行檢

驗(yàn).

在距測量邊緣0.4mm范圍內(nèi)的平行度忽略不計(jì)，

三、測量面的平面度誤差：

采用二級光學(xué)平晶檢驗(yàn)，應(yīng)調(diào)整光學(xué)平晶使測量面上干涉帶或干涉

環(huán)。

測量面不應(yīng)出現(xiàn)兩條以上的相同顏色的干涉環(huán)或干涉帶（測量量面的

平面度，〈0.6 m）

在距測量面邊緣0.4mm范圍內(nèi)的平面度忽略不計(jì)。