- 制作工藝：
- 薄膜
- 輸出信號：
- 模擬型
鉑電阻元件：日本林電工HAYASHI DENKO鉑電阻測溫元件
* 薄膜鉑熱電阻元件用陶瓷和鉑特制而成，因而在高溫下能夠保持優(yōu)良的穩(wěn)定性，適合在-50℃--400℃的溫度下使用。鉑薄膜通過激光噴濺在陶瓷表層，因而薄膜鉑熱電阻元件具有良好的防振動和防沖擊性能。薄膜鉑熱電阻元件具有很好的持久穩(wěn)定性。在400℃對CRZ-1632連續(xù)加熱1000小時后，其在0℃的誤差在0.008Ω（0.02℃）內(nèi)。響應(yīng)時間短。CRZ-1632在空氣中響應(yīng)時間7秒，CRZ-2005為11秒，在水中為0.3秒
薄膜鉑電阻系列
型號 外形尺寸
W*L*Hmm 標(biāo)稱阻值
R 工作電流
mA 引線尺寸
W*H*Lmm 工作溫度
℃ 誤差
CRZ-1632-100-Ni 1.6*3.2*1.0 100Ω 1 0.25*0.15*12 -40～450 1/3DIN
A
B
2B
CRZ-2005-100-Ni 2.0*5.0*1.0 0.25*0.15*12 -40～450
CRZ-2005-100-Pd 0.3*0.2*10 -50～500
CRZ-2005-1000-Ni
CRZ-2005-500-Ni 500Ω
1000Ω 0.5 0.25*0.15*12 -40～450
ST-1003-Pt 1.0*3.0*1.3 20Ω 1 0.25*0.15*12 -50～500
聯(lián)系人：藍(lán)冰 電話： https://www.lanyangdd.com
