AT-5000型X射線膜厚儀
　　AT-5000是新型的X射線鍍層測(cè)厚儀。它采用的半導(dǎo)體探測(cè)器，能精準(zhǔn)測(cè)試任何復(fù)雜的鍍層結(jié)構(gòu)，使用的定位系統(tǒng)，可以測(cè)試直徑很小的樣品。其強(qiáng)大的分析功能，在鍍層測(cè)厚領(lǐng)域大顯身手。
　　
　　X射線鍍層測(cè)厚儀主要配置
　　半導(dǎo)體探測(cè)器
　　微聚焦X光管
　　高壓電源
　　濾光片4組
　　準(zhǔn)直器5個(gè)　5mm、2mm、1mm、0.5mm、0.2mm、0.1mm可選
　　高清CCD
　　打印機(jī)1臺(tái)
　　計(jì)算機(jī)1臺(tái)
　　
　　X射線鍍層測(cè)厚儀軟件
　　鍍層測(cè)厚分析軟件
　　元素含量分析軟件（可選）
　　
　　X射線膜厚儀技術(shù)參數(shù)
　　可測(cè)鍍層類型：金屬鍍層（基材可為金屬或非金屬）
　　金屬基材上的無(wú)機(jī)鍍膜
　　測(cè)鍍層數(shù)：5層
　　鍍層種類：?jiǎn)谓饘馘儗?合金鍍層/無(wú)機(jī)鍍膜
　　可測(cè)元素：硫（S）－鈾（U）
　　厚度測(cè)量范圍：輕金屬（如Ti、Cr等）0.05～20um
　　中金屬（如Ni、Cu、AG等）0.01～30um
　　屬（如PT、Au等）0.005～10um
　　測(cè)試：可達(dá)納米級(jí)
　　厚度相對(duì)誤差：?jiǎn)螌?5%，多層5~10%
　　小測(cè)量直徑：0.5mm
　　輸入電壓：AC220V/50Hz
　　功耗：150W（儀器主機(jī)）
　　樣品腔尺寸：550mm*450mm*180mm
　　儀器尺寸：580mm*480mm*450mm
　　重量：56Kg