AT-3800型X熒光測(cè)厚儀利用X射線快速、、的測(cè)試鍍層/涂層厚度，可以測(cè)試多層鍍層、合金鍍層等復(fù)雜模式。是一款高端的X射線膜厚儀。
　　X熒光測(cè)厚儀性能指標(biāo)
　　鍍層種類(lèi)：?jiǎn)谓饘佟⒑辖?、無(wú)機(jī)薄膜
　　可測(cè)鍍層：多5層金屬鍍層、金屬基體上單層無(wú)機(jī)薄膜
　?。嚎蛇_(dá)0.005um
　　厚度相對(duì)誤差：?jiǎn)螌?%，多層5～10%
　　厚度范圍：0.01～50um
　　含量檢出限：2ppm
　　含量相對(duì)誤差：5～10%
　　小測(cè)量直徑：0.1mm
　　分析時(shí)間：30～200S
　　X射線膜厚儀技術(shù)參數(shù)
　　探測(cè)器：半導(dǎo)體探測(cè)器，分辨率達(dá)139eV
　　X光管：鎢（W）靶，電壓50kV，電流1.5mA
　　高壓電源：精密X射線電源，輸出電壓50kV
　　對(duì)焦系統(tǒng)：激光對(duì)焦
　　濾光片：6組濾光片電動(dòng)切換，降低背景干擾
　　準(zhǔn)直器：采用新的高科技X射線聚焦晶體，小分析面積至0.1*0.1mm＾2
　　樣品臺(tái)：高步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動(dòng)，XY軸二維移動(dòng)，步長(zhǎng)至0.05mm
　　樣品觀察：高清晰彩色CCD射線頭
　　輸入電壓：AC　220V/50Hz
　　功耗：300W
　　樣品腔尺寸：660×400×135mm
　　外型尺寸：680×460×475mm
　　重量：45Kg
　　X熒光測(cè)厚儀功能特點(diǎn)
　　的光路系統(tǒng)，X射線強(qiáng)度，減少散射背景；
　　緊密封閉的腔體設(shè)計(jì)、電路控制、機(jī)械控制三重X射線護(hù)；
　　對(duì)分析樣品的狀態(tài)、形狀、大小、厚度自動(dòng)進(jìn)行校正，減少因制樣不足而帶來(lái)的誤差。
　　自動(dòng)的高壓護(hù)電路設(shè)計(jì)；
　　高步進(jìn)電機(jī)移動(dòng)樣品臺(tái)，實(shí)現(xiàn)um級(jí)的移動(dòng)；
　　的激光定位系統(tǒng)，定位細(xì)小局部；
　　X熒光測(cè)厚儀應(yīng)用范圍
　　電鍍、真空鍍、化學(xué)鍍、納米噴鍍
　　電子、電器、五金、線材、汽車(chē)、珠寶飾等行業(yè)的金屬鍍層、無(wú)機(jī)鍍膜X射線鍍層測(cè)厚儀分析