- 品牌/商標(biāo)：臺灣Chroma
- 企業(yè)類型：貿(mào)易商
- 新舊程度：全新
- 原產(chǎn)地：臺灣
主要特色： 提供全方位電性測試 (200V/2A) ，可滿足HV及HP測試 Chroma大面積光偵測器(量測角度可達(dá)148度) 半自動精密LED wafer/chip點測設(shè)備 特殊無鉆孔真空平臺設(shè)計 特制Edge Sensor具有點測針壓穩(wěn)定，無疲乏與針壓變動問題 獨特螢?zāi)恢庇X式調(diào)針方式 機械視覺定位系統(tǒng)，縮短人工操作時間 Prober與Tester整合，效益大幅提升 自動抽測功能 廣泛的芯片尺寸應(yīng)用(滿足Chip Size 7~120 mil測試) 彈性調(diào)整的軟體操作界面 快速芯片掃描系統(tǒng) 自動破片掃描演算法 遮光罩設(shè)計，杜絕背景光干擾 即時顯示點測資料分布圖 完善的量產(chǎn)測試統(tǒng)計報表及分析工具 |
硬體設(shè)備
半自動化 LED wafer/chip 點測設(shè)備
漏電流測試模組
電源量測單元
光學(xué)測試模組
ESD 測試模組 (選配)
58173-FC為針對覆晶型(Flip Chip) LED開發(fā)的半自 動點測設(shè)備。特殊的無鉆孔玻璃平臺設(shè)計使得收光路徑上無任何干涉，因而達(dá)到更加精 準(zhǔn)的量測。
延用致茂研發(fā)的高速精準(zhǔn)的LED全光通量的量測 方式 ，這種創(chuàng)新的量測方式不僅比傳統(tǒng) 方式收集更多的LED部分光通量，也明顯的改善 提升了量測準(zhǔn)確度。
在光學(xué)量測方面，主波長、峰波長、色溫等均可 透過致茂獨特的光學(xué)設(shè)計與元件取得且穩(wěn) 定快速之?dāng)?shù)據(jù)；在電性測試方面，58173-FC 則 具備完整之電源量測單元，無論順向電壓、漏電 流、逆向崩潰電壓等 LED 電性特性，均可于一 次滿足使用者的測試需求。
58173-FC將Prober和Tester完全整合，搭配彈性 調(diào)整的軟體操作界面及邏輯演算法使得生產(chǎn) 效益大幅提升 ；完善的量產(chǎn)測試統(tǒng)計報表及分 析工具可以讓使用者用輕松掌握生產(chǎn)狀況。
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Model | Description | 詢價 |
58173-FC | LED 覆晶型全光通量自動測試系統(tǒng) | |
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