上海滬杏光學(xué)的儀器介紹：XPH-400系列型偏光熔點測定儀是地質(zhì)、礦產(chǎn)、冶金、石油化工、化學(xué)纖維、半導(dǎo)體工業(yè)以及藥品檢驗等部門和相關(guān)高等院校的高分子等常用的實驗儀器。該儀器通過光學(xué)與電子顯微鏡配合使用，可在微觀上觀察其熔化、升華、結(jié)晶過程中的狀態(tài)和各種變化。
　　上海滬杏光學(xué)儀器有限公司原系滬星儀表廠，前身主要為高科研、定向生產(chǎn)儀器儀表，建廠歷史悠久，產(chǎn)品質(zhì)量過硬，科研水平，長期保持光榮的傳統(tǒng)和優(yōu)良的作風(fēng)。改制后的我們，秉承原有的開創(chuàng)精，經(jīng)過幾代人的卓越奮斗，已發(fā)展成為集研制和生產(chǎn)光學(xué)計量測試儀器以及的光學(xué)冷加工設(shè)備的綜合性企業(yè)的聯(lián)系方式.
　　XPH-400系列型偏光熔點測定儀儀器采用人性化設(shè)計，自動化程度高、操作簡單、技術(shù)、性能、結(jié)構(gòu)新穎，屬于該領(lǐng)的水平產(chǎn)品。儀器可供廣大用戶作單偏光觀察、正交偏光觀察、錐光觀察以及顯微攝影，同時觀察物體在加熱狀態(tài)下的形變、色變及物體的三態(tài)轉(zhuǎn)化，控溫裝置。本系統(tǒng)配置有石膏λ、云母λ/4試片、石英楔子和移動尺等附件，具有可擴(kuò)展性，可連接計算機(jī)和數(shù)碼相機(jī)對圖片進(jìn)行保存、編輯和打印，是一組具有較功能和良好品質(zhì)的新型產(chǎn)品。
　　XPH-400系列型偏光熔點測定儀顯微鏡技術(shù)參數(shù)：
　　名稱規(guī)格
　　總放大倍數(shù) 40X---600X
　　無應(yīng)力消色差物鏡 4X/0.1
　　10X/0.25
　　20X/0.40
　　40X/0.65彈簧
　　60X/0.75彈簧
　　目鏡 10X十字目鏡
　　10X分劃目鏡
　　試片石膏1λ試片
　　云母1/4λ試片
　　石英楔子試片
　　測微尺 0.01mm
　　濾藍(lán)色
　　鏡筒三目觀察
　　XPH-400系列型偏光熔點測定儀加熱臺技術(shù)參數(shù)
　　1、工作溫度：室溫至300℃
　　2、起始溫度設(shè)定速率：50℃至300℃不大于12min 300℃至50℃不大于15min
　　3、儀器溫度小讀數(shù)：0.1℃
　　4、加熱臺溫度控制準(zhǔn)確度：室溫-200℃時&plun;0.5℃、200-320℃時&plun;1℃
　　5、起始溫度設(shè)定準(zhǔn)確度：&plun;1℃
　　6、線性升降溫速率（℃/min）：0.2-0.5-1-1.5-2-3-4-5（共八檔）
　　7、線性升溫速率偏差：&plun;10%
　　8、降溫速率控制：自帶微小風(fēng)扇通過設(shè)置預(yù)置溫度來減小降溫速率
　　9、樣品移動：樣品可以手動通過載玻片小范圍移動便于觀察。
　　10、加熱體方式：上面板與下面板同時加熱（樣本放在兩面板中間）
　　11、溫度記錄方式：可記錄初熔、終熔溫度
　　溫度過100℃時40X的物鏡工作距離太近易損壞，建議使用長工作距離的20X物鏡
　　XPH-400系列型偏光熔點測定儀系統(tǒng)組成
　　電腦型偏光熔點測定儀（XPH-400E）：
　　1、偏光顯微鏡 2、適配鏡 3、彩色攝像器4、A/D圖像采集卡5、熱臺
　　數(shù)碼型偏光熔點測定儀（XPH-400Z）：
　　1、偏光顯微鏡 2、數(shù)碼適配鏡 3、數(shù)碼相機(jī) 4、熱臺
　　XPH-400系列型偏光熔點測定儀總放大參考倍數(shù)
　　電腦型（XPH-400E型）：100--2600倍
　　數(shù)碼型（XPH-400Z型）：100--2000倍