XT V 160：電子檢測(cè)用納米技術(shù)（NanoTech） X射線系統(tǒng)
XT V 160也被稱為Revolution，是利用X-Tek 20年納米級(jí)焦點(diǎn)X射線技術(shù)方面的經(jīng)驗(yàn)研制開發(fā)的產(chǎn)品。
該系統(tǒng)提供了一個(gè)結(jié)構(gòu)緊湊的系統(tǒng)內(nèi)可能獲得的分辨率和放大倍數(shù)，適用于生產(chǎn)線上和故障分析實(shí)驗(yàn)室內(nèi)電子部件的檢測(cè)。
XT V 160是一款通用工具，使操作人員很方便地利用該系統(tǒng)的手動(dòng)和編程檢測(cè)功能。為重要的是，它可用于計(jì)算機(jī)斷層掃描檢測(cè)，根據(jù)其完整的三維圖像，重構(gòu)該試樣。
設(shè)計(jì)用于100% BGA和μBGA 檢測(cè)，多層板檢測(cè)和PCB焊接點(diǎn)檢測(cè)，XT V 160 X射線檢測(cè)系統(tǒng)是一個(gè)使用簡(jiǎn)便，分辨率高和成本低廉的檢測(cè)解決方案，是檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室不可少的骨干設(shè)備。
XT V 160 檢測(cè)優(yōu)點(diǎn)
- 操作使用直觀
- 能在很短的時(shí)間內(nèi)獲得高質(zhì)量圖像
- 市場(chǎng)的放大倍數(shù)，適用于100%板檢測(cè)
- 75°傾斜視角（板平面的方位角為15°）
- 購(gòu)置成本低
- 裝置，可作為設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)
- 占用空間小
