MP-900系列beta射線鍍層測厚儀
美國UPA貝爾塔射線涂鍍層測厚儀MP-900
美國UPA Micro-Derm鍍層和涂層測厚儀MP-900
β射線反向散射測量技術(shù)
依照標準ASTM B567，ISO/DOS 3543和DIN 50 983的準則
應(yīng)用在測量許多經(jīng)典結(jié)構(gòu)的鍍層厚度，包括鎳上鍍金（Au/Ni）,環(huán)氧樹脂鍍銅（Cu/epoxy），光致蝕劑photorist，銅上鍍銀（Ag/Cu），科瓦鐵鈷鎳合金上鍍錫Sn/kovar，鐵上鍍氮化鈦Ti-N/Fe，錫鉛合金Sn-Pb。
Micro-Derm MP-900可以利用霍爾效應(yīng)技術(shù)測量銅上鍍鎳（Ni/Cu）的厚度。
探頭系統(tǒng)可以用于測量各種樣品表面，從小件（連接器和端子）到大件（印制線路板）。
Micro-Derm BBS厚度標準片（4點設(shè)定）包括：純材料的底材，表面鍍層的純材料無限厚片和兩塊經(jīng)過NIST（美國聯(lián)邦標準技術(shù)委員會）的標準厚度的薄片。
高質(zhì)量的制造技術(shù)盡可能的鍍層厚度測量。
設(shè)計體現(xiàn)了的易操作性和率。
TTING INSTRUMENTATION
Micro-Derm MP-900
只有MP900融合了β射線反向散射和霍爾效應(yīng)測量技術(shù)。避免了因為存在兩種需要而購買了兩種儀器的麻煩。
緊湊的設(shè)計
的測量能力
經(jīng)濟的X射線熒光分析儀器的替代品
生產(chǎn)量
45種標準檔案記憶允許用戶快速的進行應(yīng)用轉(zhuǎn)換。
的VRAM 設(shè)計使得即使在備用電源斷電時仍可以保留有價值的校準檔案。
標準校準模式：4點，3點，2點，線性，多點和Sn-Pb.
的多點Sn-Pb校準模式可以對不同的Sn-Pb組分進行自動補償和修正。
新的3點BBS模式并不需要純材料鍍膜標準片。
多點校正模式應(yīng)用于霍爾效應(yīng)測量（測量鎳厚）。
Micro-Derm MP-700
MP700D 測量鍍層和涂層的厚度，例如：金，銀，銣，錫，錫鉛合金，銅，鎳，光致蝕劑，鋁，鈀和鈦鎢合金。 可以測量任何件
16組標準檔案存儲
因為有兩個探頭接口，所以用戶可以方便的在兩種應(yīng)用間轉(zhuǎn)換
清晰的顯示屏可以在檢測過程中不斷的提示操作者，減少錯誤
LED讀數(shù)顯示測量結(jié)果的單位可以是微英寸（microinch）,微米（micrometers）,毫英寸（mils），埃（angstroms），組分百分含量等。
標準特點包括自動診斷測試，錯誤檢測，RS-232C 輸出端口
探頭，底座和配件
PS-10A 探頭系統(tǒng)
用于測量微小件
這種緊湊的輕量的探頭系統(tǒng)設(shè)計用來測量微小的電子原器件，例如：芯片（IC），焊盤，晶體管頭和導(dǎo)線，扁平集成電路，繼電器，終端，針，二管，連接器，電纜等。
型號為PS-10A的探頭應(yīng)用了直徑的G-M管以便取得更準確的測量結(jié)果，并且了統(tǒng)計功能。這種G-M管可以在鍍層測試時探測β射線反射微粒數(shù)量，并且將這種脈沖信號傳送給Micro-Derm主機，在主機里這種脈沖信號被轉(zhuǎn)換成數(shù)字顯示的厚度讀數(shù)。
可互換的放射源/光圈組件
的放射源環(huán)和光圈盤組件模塊了簡單的易更換性，可以方便的重組大量的放射源-光圈組合，從而可以測量幾乎的小件。
各種尺寸和型號的光圈盤配置可以方便的對測量面積進行限定。每種放射源和用戶指定的光圈盤一起配套成為放射源/光圈組件模組。
光圈盤是由硬質(zhì)不銹鋼制成，并且可以作成圓形或者長方形。彈簧針將測試件牢牢固定住，暴露在光圈盤開窗下的測試件區(qū)域的鍍層厚度將被測試出來。
光圈器固定裝置
對于定位的測試件，UPA為客戶提供了光圈器固定裝置。網(wǎng)格固定裝置可以對件進行更為方便的定位，例如焊盤，小連接器，導(dǎo)線，等。這種完整的組件是由件固定器設(shè)備和配套的光圈盤組成。
CB-5型底座
專門用于印制線路板測試
這種新的線路板型CB-5底座，可以為在印制線路板上的表面鍍層厚度進行出乎意外的快速和測量。
通過這種的光學(xué)定位系統(tǒng)，CB-5就可以方便地將HH-3測試探頭（見上頁）定位在線路板上的微小區(qū)域內(nèi)。將CB-5放置在線路板上，線路板上的被檢測點將被照亮，并不需要類似十字準線式的對準方法進行對準。
既然CB-5底座可以移動到線路板上的任何位置，那么它就可以對即使處于型線路板的中心位置這樣類似檢測的區(qū)域進行測試。通過利用C-3卡子和HH-3探頭系統(tǒng)就可以快速的對放置在CB-5中的探頭進行更換。
Micro-Derm探頭和底座
HH-3探頭
一套的探頭系統(tǒng)包括一個盛裝β射線放射源（Pm,Tl,Sr）的探頭桶-3,一個Geiger-MullerG-M管，一個樣品罩。
這種多樣化的探頭可以和多種探頭底座和支架相配套，從而可以對各種尺寸和形狀的件進行測量，例如線路板，圓柱，制罐用薄板材料，平板，底盤，小件。
HH-4探頭
這種緊湊的的探頭系統(tǒng)可以測量直徑小至0.5"12.7mm內(nèi)曲面或內(nèi)
平面的激光視盤。這種的配置可以使β射線微粒從探頭側(cè)面開窗發(fā)射出來?？梢詼y量軸承、環(huán)狀物、管子、波導(dǎo)、圓柱等內(nèi)側(cè)表面的金、銠、銀、石墨、錫鉛合金以及其它鍍層的厚度。
TR-1探頭系統(tǒng) 這種探頭用于測量高密硬盤，金屬薄片，膠帶，硅晶片，等。用探頭TR-1把樣品放置在β射線放射源和G-M管探測器之間進行測量是非接觸的，這樣就允許不斷的移動金屬薄片和膠帶進行測量，需要配置Tl放射源。 TR-1探頭系統(tǒng)提供非接觸的測量。 小件探頭底座SPG-1 這種底座用于定位HH-3探頭對小型電子件進行測量，比如連接器，針頭，焊盤，電線，扁平集成電路和接觸端。樣品固定壓力針可以的固定樣品。這種底座可以同樣的標準HH-3探頭既可以用于測量有大的表面的件，也可以測量小型部件。 我們的應(yīng)用工程師將很高興為適應(yīng)您的的測量應(yīng)用的需要而配置挑選合適的部件。
TTING INSTRUMENTATION
Micro-Derm MP-900
只有MP900融合了β射線反向散射和霍爾效應(yīng)測量技術(shù)。避免了因為存在兩種需要而購買了兩種儀器的麻煩。
緊湊的設(shè)計
的測量能力
經(jīng)濟的X射線熒光分析儀器的替代品
生產(chǎn)量
45種標準檔案記憶允許用戶快速的進行應(yīng)用轉(zhuǎn)換。
的VRAM 設(shè)計使得即使在備用電源斷電時仍可以保留有價值的校準檔案。
標準校準模式：4點，3點，2點，線性，多點和Sn-Pb.
的多點Sn-Pb校準模式可以對不同的Sn-Pb組分進行自動補償和修正。
新的3點BBS模式并不需要純材料鍍膜標準片。
多點校正模式應(yīng)用于霍爾效應(yīng)測量（測量鎳厚）。
Micro-Derm MP-700
MP700D 測量鍍層和涂層的厚度，例如：金，銀，銣，錫，錫鉛合金，銅，鎳，光致蝕劑，鋁，鈀和鈦鎢合金。 可以測量任何件
16組標準檔案存儲
因為有兩個探頭接口，所以用戶可以方便的在兩種應(yīng)用間轉(zhuǎn)換
清晰的顯示屏可以在檢測過程中不斷的提示操作者，減少錯誤
LED讀數(shù)顯示測量結(jié)果的單位可以是微英寸（microinch）,微米（micrometers）,毫英寸（mils），埃（angstroms），組分百分含量等。
標準特點包括自動診斷測試，錯誤檢測，RS-232C 輸出端口
探頭，底座和配件
PS-10A 探頭系統(tǒng)
用于測量微小件
這種緊湊的輕量的探頭系統(tǒng)設(shè)計用來測量微小的電子原器件，例如：芯片（IC），焊盤，晶體管頭和導(dǎo)線，扁平集成電路，繼電器，終端，針，二管，連接器，電纜等。
型號為PS-10A的探頭應(yīng)用了直徑的G-M管以便取得更準確的測量結(jié)果，并且了統(tǒng)計功能。這種G-M管可以在鍍層測試時探測β射線反射微粒數(shù)量，并且將這種脈沖信號傳送給Micro-Derm主機，在主機里這種脈沖信號被轉(zhuǎn)換成數(shù)字顯示的厚度讀數(shù)。
可互換的放射源/光圈組件
的放射源環(huán)和光圈盤組件模塊了簡單的易更換性，可以方便的重組大量的放射源-光圈組合，從而可以測量幾乎的小件。
各種尺寸和型號的光圈盤配置可以方便的對測量面積進行限定。每種放射源和用戶指定的光圈盤一起配套成為放射源/光圈組件模組。
光圈盤是由硬質(zhì)不銹鋼制成，并且可以作成圓形或者長方形。彈簧針將測試件牢牢固定住，暴露在光圈盤開窗下的測試件區(qū)域的鍍層厚度將被測試出來。
光圈器固定裝置
對于定位的測試件，UPA為客戶提供了光圈器固定裝置。網(wǎng)格固定裝置可以對件進行更為方便的定位，例如焊盤，小連接器，導(dǎo)線，等。這種完整的組件是由件固定器設(shè)備和配套的光圈盤組成。
CB-5型底座
專門用于印制線路板測試
這種新的線路板型CB-5底座，可以為在印制線路板上的表面鍍層厚度進行出乎意外的快速和測量。
通過這種的光學(xué)定位系統(tǒng)，CB-5就可以方便地將HH-3測試探頭（見上頁）定位在線路板上的微小區(qū)域內(nèi)。將CB-5放置在線路板上，線路板上的被檢測點將被照亮，并不需要類似十字準線式的對準方法進行對準。
既然CB-5底座可以移動到線路板上的任何位置，那么它就可以對即使處于型線路板的中心位置這樣類似檢測的區(qū)域進行測試。通過利用C-3卡子和HH-3探頭系統(tǒng)就可以快速的對放置在CB-5中的探頭進行更換。
Micro-Derm探頭和底座
HH-3探頭
一套的探頭系統(tǒng)包括一個盛裝β射線放射源（Pm,Tl,Sr）的探頭桶-3,一個Geiger-MullerG-M管，一個樣品罩。
這種多樣化的探頭可以和多種探頭底座和支架相配套，從而可以對各種尺寸和形狀的件進行測量，例如線路板，圓柱，制罐用薄板材料，平板，底盤，小件。
HH-4探頭
這種緊湊的的探頭系統(tǒng)可以測量直徑小至0.5"12.7mm內(nèi)曲面或內(nèi)
平面的激光視盤。這種的配置可以使β射線微粒從探頭側(cè)面開窗發(fā)射出來?？梢詼y量軸承、環(huán)狀物、管子、波導(dǎo)、圓柱等內(nèi)側(cè)表面的金、銠、銀、石墨、錫鉛合金以及其它鍍層的厚度。
TR-1探頭系統(tǒng) 這種探頭用于測量高密硬盤，金屬薄片，膠帶，硅晶片，等。用探頭TR-1把樣品放置在β射線放射源和G-M管探測器之間進行測量是非接觸的，這樣就允許不斷的移動金屬薄片和膠帶進行測量，需要配置Tl放射源。 TR-1探頭系統(tǒng)提供非接觸的測量。 小件探頭底座SPG-1 這種底座用于定位HH-3探頭對小型電子件進行測量，比如連接器，針頭，焊盤，電線，扁平集成電路和接觸端。樣品固定壓力針可以的固定樣品。這種底座可以同樣的標準HH-3探頭既可以用于測量有大的表面的件，也可以測量小型部件。 我們的應(yīng)用工程師將很高興為適應(yīng)您的的測量應(yīng)用的需要而配置挑選合適的部件。
