HP4287A詳細(xì)資料
射頻LCR測(cè)試儀HP4287A
產(chǎn)品名稱： 射頻LCR測(cè)試儀HP4287A
品　　牌： HP
產(chǎn)品型號(hào)： 4287A
產(chǎn)品指標(biāo)： 1MHz～3GHz 
產(chǎn)品信息： ·1MHz～3GHz，以100KHz分檔
HP4287A阻測(cè)量范圍寬，從200mΩ到3KΩ
HP4287A在低測(cè)度信號(hào)電平上具有優(yōu)良的測(cè)量重復(fù)性
HP4287A基本為1%
HP4287A測(cè)量9ms
HP4287A射頻測(cè)試儀
　　HP4287A射頻測(cè)試儀LCR在1MHz～3GHz頻率范圍可以提供，和快速測(cè)量，以
改進(jìn)生產(chǎn)線上對(duì)電子元件進(jìn)行測(cè)試的質(zhì)量和生產(chǎn)率。與反向測(cè)量技術(shù)不同，采用直流電
壓測(cè)量技術(shù)能在大的阻范圍進(jìn)行測(cè)量。
HP4287A生產(chǎn)率高，質(zhì)量
　　HP4287A適于在射頻范圍對(duì)電子元器件進(jìn)行測(cè)試。4287A的測(cè)量快。此外，在小
測(cè)試電流(100μA)優(yōu)良的測(cè)試重復(fù)性還可以顯著生產(chǎn)率，因?yàn)樗璧娜∑骄^程非
常短。
HP4287A系統(tǒng)組建簡(jiǎn)單
　　測(cè)試頭電纜(1m或利用延伸電纜時(shí)為2m)很容易接到(元件固定裝置的)被測(cè)件點(diǎn)測(cè)件
接點(diǎn)附近，而不會(huì)使誤差有任何。內(nèi)置比較器功能，GPIB處理器接口可用來簡(jiǎn)
化與元件固定裝置和PC機(jī)的組合。增強(qiáng)的比較器功能可以使復(fù)雜的倉(cāng)室適用于多頻或陣
列芯片測(cè)試。