天瑞手持式ROHS檢測(cè)儀

產(chǎn)品說(shuō)明、技術(shù)參數(shù)及配置:Genius 3000XRF廣泛應(yīng)用于玩具安全檢測(cè)、電子電氣和RoHS檢測(cè)等方面。在歐盟玩具指令頒布實(shí)施后，迅速成為玩具生產(chǎn)商進(jìn)行玩具安全檢測(cè)的有力保障。用于電子元件與部件的材料生產(chǎn)；電子零部件、原材料供應(yīng)商進(jìn)行第三方評(píng)估；包裝材料進(jìn)行測(cè)試與驗(yàn)證；各類(lèi)電池進(jìn)行有害物質(zhì)測(cè)試與驗(yàn)證；各種玩具、文具、兒童用品和禮品的測(cè)試；大體積部件的無(wú)阻擋，無(wú)限制空間測(cè)試；對(duì)精細(xì)部件的定位，以排除干擾；貴重物品的無(wú)損檢測(cè)，對(duì)物品無(wú)任何傷害。

有害元素檢測(cè)優(yōu)勢(shì)：
1.配備新SDD探測(cè)器，探測(cè)器分辯率<139eV,對(duì)于微量有害元素可以進(jìn)行更加的測(cè)試。
2.配備高清晰攝像頭，可以更加準(zhǔn)確的進(jìn)行點(diǎn)定位測(cè)試。對(duì)于針腳之類(lèi)的微小樣品進(jìn)行測(cè)試。
3.全新軟件，算法更強(qiáng)，功能更多。提高了有害元素的檢測(cè)。
4.常壓充氦氣系統(tǒng)，大大提高了鹵素（尤其是Cl元素）的測(cè)試。

性能指標(biāo):

1.分析方法：能量色散X熒光分析方法
2.測(cè)量元素范圍：鎂（Mg）到鈾（U）之間的元素均可測(cè)量
3.同時(shí)檢測(cè)元素：數(shù)幾十種元素可同時(shí)分析
4.含量范圍：ppm～99.99%
5.檢測(cè)時(shí)間：3-30秒
6.GPS、WIFI：內(nèi)置系統(tǒng)
7.檢測(cè)對(duì)象：固體、液體、粉末
8.視頻系統(tǒng)：高清晰攝像頭
9.顯示屏：半透半反式液晶顯示觸摸屏，其分辨率是640*480
10.檢出限：檢出限達(dá)ppm級(jí)
11.檢測(cè)窗口：12mm
12.安全性：自帶密碼管理員模式，數(shù)據(jù)可隨意保存

460mm寬的緊湊身材，配備大容量的樣品室
 460mm寬的緊湊身材，與我公司以往機(jī)型相比尺寸減少20%。
而緊湊的機(jī)身，卻擁有可放置200（W）×275（D）×約100（H）mm樣品的大型樣品室。
性能優(yōu)勢(shì):

1.性能卓越堪比臺(tái)式機(jī)
   小功率端窗一體化微型光管、大面積鈹窗SDD硅漂移探測(cè)器（世界上的探測(cè)器）及微型數(shù)字信號(hào)多道處理器三大技術(shù)的引入，大幅降低測(cè)試時(shí)間、提高檢測(cè)、減少測(cè)試誤差，使手持式rel="nofollow" 儀器具有與臺(tái)式相近的測(cè)試性能。
2.小巧便攜、操作快捷
體積很小，便攜、方便野外工作。隨時(shí)隨地，隨心所欲的現(xiàn)場(chǎng)分析和原位分析。
3.無(wú)損檢測(cè)
整個(gè)檢測(cè)過(guò)程被測(cè)樣品無(wú)任何損壞
4.快速檢測(cè)
儀器既可手持1-2秒對(duì)樣品進(jìn)行快速測(cè)試，也能使用座式對(duì)樣品進(jìn)行較長(zhǎng)時(shí)間的精細(xì)測(cè)試，10秒即可進(jìn)行接近實(shí)驗(yàn)室的測(cè)量。
5.新增輕元素檢測(cè)功能
較三代手持式X熒光分析儀，增加了可充氣系統(tǒng)，可采用常壓充氦氣系統(tǒng)對(duì)設(shè)備充氣。從而實(shí)現(xiàn)檢測(cè)從Mg開(kāi)始的元素，大大擴(kuò)展測(cè)試元素范圍，滿足特定客戶輕元素檢測(cè)需求。
6.直接測(cè)定無(wú)需制樣
野外分析無(wú)需制備樣品，可直接在待測(cè)物表面進(jìn)行測(cè)定，可分析任何樣品類(lèi)型，包括電子電器產(chǎn)品、合金樣品、地質(zhì)礦產(chǎn)、土壤、巖石、泥土、殘?jiān)?、固體小顆粒、液體沉積物等。
7.高清攝像頭檢測(cè)更加精準(zhǔn)
內(nèi)置高清晰攝像頭，可以隨時(shí)觀察被測(cè)樣品的測(cè)試位置，這一點(diǎn)情況在RoHS、地礦樣品中猶為重要。
8.偏差校正輕松到位
多種測(cè)試模式設(shè)置及無(wú)限數(shù)目模式的自由添加，配合自動(dòng)測(cè)試模式匹配功能，實(shí)現(xiàn)一鍵式輕松測(cè)試。內(nèi)置強(qiáng)度校正方法，可校正幾何狀態(tài)不同和結(jié)構(gòu)密度不均勻的樣品造成的偏差。