牛津儀器X-Strata920 X射線熒光鍍層測厚儀快速的X射線熒光鍍層厚度測量及材料分析，、率.牛冿 OXFORD X-strata 920

適合：PCB行業(yè)，電鍍行業(yè)等做精密測試?？蓽y鍍金，銀，銅，錫，及金屬等

一、用途：

電子行業(yè)：

測量PCB、FPC、LED、SMD、連接器、天線、半導體、電阻電容、等元氣件，元件性，測量焊料合金成分和鍍層厚度，優(yōu)化質量控制，產品生命期。如：

分析導電性鍍層金、鈀厚度；測量電腦硬盤上的NiP層的厚度

五金電鍍行業(yè)：

測量螺栓、螺母、彈簧類緊固件、五金衛(wèi)浴、汽車部件、功能性電鍍件，快速簡單的分析，同時進行單層或多層鍍層厚度測量和成分分析，多分析4層鍍層

其他行業(yè)：

測量珠寶、飾、裝飾品、合金等的金屬合金成分分析、牌號認定，進行材料鑒定

珠寶及合金的分析，進行黃金純度分析、合金成分分析

測量樣品臺配置：

固定臺

Z軸自動控制，移動行程：43mm (1.7")，XY軸手動控制,樣品臺高度固定，測量樣品高度33mm,儀器外形尺寸（寬×深×高）：407×770×305mm（電腦和顯示器）

加深式樣品臺

Z軸自動控制，移動行程：43mm (1.7")，XY軸手動控制，樣品倉抽屜式設計，4個位置上下可調，每格高度25.4mm，樣品高度160mm，樣品倉內部尺寸（寬×深×高）：279×508×152mm，儀器外形尺寸（寬×深×高）：407×770×400mm(電腦和顯示器)

自定義樣品臺：依據客戶要求提供更高的樣品臺，滿足高度大于160mm的樣品測量，倉內抽屜式設計，多個位置上下可調，每格高度25.4mm

全自動樣品臺

Z軸自動控制，移動行程：43mm (1.7")，XY軸自動控制，可提供對樣品的自動和編程控制，多點測量，鼠標控制樣品臺移動，地定位樣品測量點，測量模式：隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、重復測量模式，樣品臺移動行程：178×178mm，樣品臺尺寸：寬610×深560mm，樣品高度33mm，儀器外形尺寸：寬610×深1037×高375mm(電腦和顯示器)

測試原理：

對被測樣品發(fā)射一束X射線，樣品的原子吸收X射線的能量后被激發(fā)并釋放出二次X射線。每個化學元素會釋放出特定能量的X射線。通過測量這些釋放出的二次X射線的特征能量和強度，X射線分析儀就能夠對被測材料的鍍層厚度和成份提供定性和定量分析。

X射線系統(tǒng)

垂直下照式X射線光學系統(tǒng)，50W(50kV，1.0mA)空冷式微聚焦型鎢W靶X射線管，高計數率，分析，到達更小的激發(fā)X射線束斑

準直器