- 企業(yè)類型：制造商
- 新舊程度：全新
- 原產(chǎn)地：深圳
ITC57300是美國ITC公司設(shè)計生產(chǎn)的高集成度功率半導(dǎo)體分立器件動態(tài)參數(shù)測試設(shè)備，采用測試主機(jī)+功能測試頭+個性板的測試架構(gòu)，可以滿足N溝道、P溝道器件、雙極晶體管等的各項動態(tài)參數(shù)的測試要求，且具有波形實(shí)時顯示分析功能，是目前具水平的完備可靠的動態(tài)參數(shù)測試設(shè)備。
ITC57300動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)主機(jī)可執(zhí)行非破壞性的瞬態(tài)測量測試，包括對半導(dǎo)體器件絕緣柵雙極晶體管（IGBT），功率MOSFET，二極管，雙極型器件的測試頭。主機(jī)包括所有測試設(shè)備和必要的軟件分析，可執(zhí)行電阻和電感的開關(guān)時間，開關(guān)損耗，柵極電荷，TRR /的Qrr和其他瞬態(tài)測試。
ITC57300能力
測試電壓：1200 VDC 200（短路電流可達(dá)1000A）
定時測量：為1 ns
漏電流限制監(jiān)視器
- MOSFET開關(guān)時間測試， Max VDD =1.2KV,0.1V Steps
- MOSFET,Diodes Qrr/Trr反向恢復(fù)時間測試，Max VDD=1.2KV, 0.1V Steps
- Qrr range：1nc~100uc，Trr range：10ns~2us
- MOSFET柵電荷Qg測試，Max VDD =1.2KV,0.1V Steps
- IGBT感性開關(guān)時間測試，Max VDD =1.2KV,0.1V Steps，Inductors range：0.1mH~159.9mH
- IGBT短路耐量測試，Max ISC=1000A
測試標(biāo)準(zhǔn)：
- MIL-STD-750 Series
額外的電源供應(yīng)器
額外的測試頭
大包裝適配器
ITC57210 - N-通道和P-通道功率MOSFET，MIL-STD-750方法3472開關(guān)時間
ITC57220 - TRR /電源，MOSFET和二極管的Qrr，MIL-STD-750方法，3473
ITC57230 - 柵極電荷功率MOSFET，MIL-STD-750方法3471
ITC57240 - 電感式開關(guān)時間為IGBT，MIL-STD 750方法3477
ITC57250 - （ISC）短路耐受時間，MIL-STD-750方法3479
很容易改變的測試頭
在不同參數(shù)的自動化測試
堅固耐用的PC兼容計算機(jī)
用戶友好的菜單驅(qū)動軟件
可編程測試出紙槽
電子表格兼容的測試數(shù)據(jù)
可選內(nèi)部電感負(fù)載
GPIB可編程測試設(shè)備
四通道高帶寬數(shù)字示波器
脈沖發(fā)生器
1200V電源
測試頭高電壓互鎖
接收端的高電壓互鎖
高速漏極供電開關(guān)
