X熒光鍍層測厚儀Thick800A_江蘇天瑞儀器股份有限公司

X熒光鍍層測厚儀即膜厚測試儀的工作原理：
若一個電子由軌道游離，則其他能階的電子會自然的跳至他的位置，以達到穩(wěn)定的狀態(tài)，此種不同能階轉(zhuǎn)換的過程可釋放出能量，即X-射線。因為各元素的每一個原子的能階均不同，所以每一元素軌道間的能階差也不同相同。 
下述可描述X-射線熒光的特性：若產(chǎn)生X-射線熒光是由于轉(zhuǎn)移一個電子進入K 軌道，一個K軌道上的電子已事先被游離，另一個電子即代替他的地位，此稱之為K 輻射。不同的能階轉(zhuǎn)換出不同的能量，如Kα輻射是電子由L軌道跳至K軌道的一種輻射，而Kβ輻射是電子從M 軌道跳至K軌道的一種輻射，其間是有區(qū)別的。若X-射線熒光是一個電子跳入L的空軌域，此種輻射稱為L輻射。同樣的L 輻射可劃分為Lα 輻射，此是由M軌道之電子跳入L軌道及Lβ 輻射，此是由N 軌道之電子跳入L 軌道中 。由于Kβ輻射能量約為Kα的11%，而Lβ輻射能量較Lα大約20%，所以以能量的觀點Lα及Lβ是很容易區(qū)分的。
原子的特性由原子序來決定，亦即質(zhì)子的數(shù)目或軌道中電子的數(shù)目，即如圖所示特定的X-射線能量與原子序間的關系。K輻射較L輻射能量高很多，而不同的原子序也會造成不同的能量差。 
特定的X-射線可由比例計數(shù)器來偵測。當輻射撞擊在比例器后，即轉(zhuǎn)換為近幾年的脈波。電路輸出脈沖高度與能量撞擊大小成正比。由特殊物質(zhì)所發(fā)出的X-射線可由其后的鑒別電路記錄。 
使用X-射線熒光原理測厚，將被測物置于儀器中，使待測部位受到X-射線的照射。此時，特定X-射線將由鍍膜、素材及任何中間層膜產(chǎn)生，而檢測系統(tǒng)將其轉(zhuǎn)換為成比例的電信號，且由儀器記錄下來，測量X-射線的強度可得到鍍膜的厚度。

在有些情況，如：印刷線路板上的IC導線，接觸針及導體的零件等測量要求較高 ,一般而言，測量鍍膜厚度基本上需符合下述的要求： 
1.不破壞的測量下具高精密度。 
2.極小的測定面積。 
3.中間鍍膜及素材的成份對測量值不產(chǎn)生影響。 
4.同時且互不干擾的測量上層及中間鍍膜 。 
5.同時測量雙合金的鍍膜厚及成份。 
而X-射線熒光法就可在不受素材及不同中間膜的影響下得到高精密度的測量。

二.主要特點 
1.無損、、快速測量各種電鍍層的厚度. 
2.電鍍層可以是單層/雙層/三層 
3.鍍金/鍍銀/鍍鎳/鍍銅等都可以測量 
4.有電鍍液成份分析以及金屬成份分析等軟件 
5.易操作/易維護 
6.準直器程控交換系統(tǒng) 多可同時裝配6種規(guī)格的準直器，程序交換控制 
多種規(guī)格尺寸準直器任選： 
－圓形，如4、6、8、12、20 mil等 
－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等 
7.測量斑點尺寸 
在12.7mm聚焦距離時，小測量斑點尺寸為：0.15 x 0.15 mm(使用0.15 x 0.15 mm準直器) 
在12.7mm聚焦距離時，測量斑點尺寸為：0.38 x 0.42 mm(使用0.30 x 0.30mm準直器)

產(chǎn)品介紹

金屬鍍層測厚儀俗稱X射線熒光膜厚儀、鍍層膜厚儀、膜厚儀、膜厚測試儀、金鎳厚測試儀、電鍍膜厚儀等；精密測量金屬電鍍層的厚度；主要應用在：電路板、端子連接器、LED、半導體、衛(wèi)浴潔具、五金工具、五金電鍍、珠寶首飾、汽車配件、檢測機構以及研究所和高等院校等。

性能特點

滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求

φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
高移動平臺可定位測試點，重復定位小于0.005mm
采用高度定位激光，可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊
鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點
高分辨率探頭使分析結果更加精準
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護

技術指標

型號：Thick 800AXRF鍍層測厚儀

元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。 
同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互獨立的基體效應校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。 
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm 

樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg

標準配置

開放式樣品腔。

精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現(xiàn)三維移動。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。 
Si-Pin探測器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護傳感器
計算機及噴墨打印機

應用領域及圖片

黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.
金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行，首飾銷售和檢測機構；電鍍行業(yè)。

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