在圖像特征提取過(guò)程中，邊緣提取是解決缺陷標(biāo)記的有效方法，本文分析了幾種經(jīng)典邊緣提取方法，以及改進(jìn)了一種基于形態(tài)學(xué)梯度的X射線圖像邊緣檢測(cè)方法。為了得到更好的閾值分割效果，本文還采用一種基于模糊集合的多屬性閾值分割算法，針對(duì)圖像的全局和局部屬性選取閾值進(jìn)行分割。這些方法應(yīng)用在X射線圖片特征提取中取得較好的效果。
　　 缺陷特征參數(shù)的選擇和提取是缺陷分類的前提，直接影響著分類結(jié)果，通過(guò)對(duì)缺陷特點(diǎn)的分析，本文選取了幾何特征，圖像不變矩和灰度特征這些能準(zhǔn)確反映缺陷本質(zhì)特征的特征參數(shù)，并給出了各自的計(jì)算方法。在缺陷分類的解決方案上，采用具有自組織、自適應(yīng)的BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)算法對(duì)X射線圖片中缺陷進(jìn)行分類識(shí)別。在對(duì)系統(tǒng)架構(gòu)進(jìn)行了分析和設(shè)計(jì)后，利用Visual C++開發(fā)了基于X射線的圖像處理軟件平臺(tái)。本文把設(shè)計(jì)的X射線實(shí)時(shí)成像檢測(cè)與缺陷識(shí)別系統(tǒng)應(yīng)用到太陽(yáng)能硅電池板缺陷檢測(cè)與識(shí)別中，獲得了比較理想的效果。

日聯(lián)科技成立于2002年，始于深圳，是從事精密 X 射線技術(shù)研究和 X 射線智能檢測(cè)裝備研發(fā)、制造的高新技術(shù)企業(yè)，也是國(guó)內(nèi)集物聯(lián)網(wǎng)“云計(jì)算”技術(shù)于 X 射線智能檢測(cè)系統(tǒng)的集成商。公司現(xiàn)已發(fā)展為國(guó)內(nèi) X 射線檢測(cè)技術(shù)和設(shè)備種類最齊全的，是第四家微米級(jí) X 射線源技術(shù)擁有者。該技術(shù)和裝備廣泛應(yīng)用于電子半導(dǎo)體、鋰電新能源、工業(yè)無(wú)損探測(cè)、公共安全及航天等高科技行業(yè)，填補(bǔ)了國(guó)內(nèi)多項(xiàng)技術(shù)空白。

產(chǎn)品特點(diǎn)：
● 80-90KV 15-5μm X射線源，F(xiàn)PD平板探測(cè)器；
● 多功能載物平臺(tái)；
● X光管、探測(cè)器上下升降，超便捷目標(biāo)點(diǎn)導(dǎo)航系統(tǒng)；
● 多功能DXI影像系統(tǒng)，可編程檢測(cè)；
● 載物區(qū)域420*420mm，檢測(cè)區(qū)域380*380mm, 1000X系統(tǒng)放大倍數(shù)；
● BGA空洞比率自動(dòng)測(cè)算，并生成。

應(yīng)用領(lǐng)域：
● LED、SMT、BGA、CSP、倒裝芯片檢測(cè)；
● 半導(dǎo)體、封裝元器件、電池行業(yè)；
● 電子元器件、汽車零部件、光伏行業(yè)；
● 鋁壓鑄模鑄件、模壓塑料；
● 陶瓷制品等特殊行業(yè)的檢測(cè)。

檢測(cè)圖片：