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X射線熒光光譜法測試原理：
X射線熒光光譜法是一種現(xiàn)代儀器分析方法，通過X射線管產(chǎn)生入射X射線（X射線），激發(fā)被測樣品；受激發(fā)的樣品中的每一種元素會發(fā)出特征X射線（二次X射線）——這種特征X射線具有特定的能量和波長特性（莫塞萊定律），這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量被探測系統(tǒng)測量，通過配套軟件將這些射線信號轉(zhuǎn)化為樣品中各種組分元素的具體含量。
1 儀器測試方法
圖1 X射線熒光分析流程圖
1.1 設(shè)備及試劑
設(shè)備：X射線熒光光譜儀一臺 EDX3200S PLUS；電子天平一臺（0.01g）；自動壓片機一臺（壓力不小于40T）；鼓風干燥箱一臺；振動磨一臺；非金屬樣品篩（200目）
試劑： 硼酸粉末（分析純）；土壤國家標準物質(zhì)；土壤樣品
1.2 樣品的采集、保存和前處理
土壤樣品的采集和保持按照HJ/T166執(zhí)行，樣品的風干或烘干按照HJ/T166相關(guān)規(guī)定進行操作，樣品研磨后過200目篩，于105℃烘干備用。
用電子天平稱量5.00g過篩（200目）的土壤標準物質(zhì)或樣品和12.00g硼酸粉末（鑲邊材質(zhì)），稱量誤差±0.05g。然后放入壓片機中壓片成型，壓力30T（壓力范圍20～30T）,保壓時間30s。
1.3 工作曲線的建立和樣品分析
設(shè)定適當?shù)臏y量條件，使用EDX3200S PLUS掃描國家標準物質(zhì)（簡稱標樣）GSS-1～GSS-15，建立土壤標樣中關(guān)注元素含量與強度的線性工作曲線。然后，對未知樣品進行測量。
2. 測量及數(shù)據(jù)分析
2.1 土壤中關(guān)注的金屬元素及氧化物檢出限測量
EDX 3200S PLUS 配有三組濾光片，根據(jù)土壤中關(guān)注元素的特性，設(shè)置測試條件。用國家土壤標樣GSS-1-GSS-15標定儀器，建立環(huán)境土壤工作曲線。在環(huán)境土壤工作曲線下，使用高純SiO2 做空白基體，連續(xù)測試11次，根據(jù)檢出限公式： 3倍的空白基體的標準偏差除以儀器的靈敏度
終獲得EDX 3200S PLUS測量土壤樣品的方法檢出限，如下表所示
表1 土壤樣品中金屬元素及氧化物的檢出限
| 序號 | 元素/化合物 | 國標要求 檢出限 | 儀器檢出限 | 判定 |
| 1 | K2O | 1500.0 | 72.2 | 滿足 |
| 2 | CaO | 2700.0 | 39.3 | 滿足 |
| 3 | Ti | 150.0 | 6.7 | 滿足 |
| 4 | V | 12.0 | 1.1 | 滿足 |
| 5 | Cr | 9.0 | 3.6 | 滿足 |
| 6 | Mn | 30.0 | 2.2 | 滿足 |
| 7 | Fe2O3 | 1500 | 6.6 | 滿足 |
| 8 | Co | 4.8 | 0.13 | 滿足 |
| 9 | Ni | 4.5 | 1.2 | 滿足 |
| 10 | Cu | 3.6 | 2.4 | 滿足 |
| 11 | Zn | 6.0 | 3.26 | 滿足 |
| 12 | Ga | 6.0 | 1.76 | 滿足 |
| 13 | As | 6.0 | 6.0 | 滿足 |
| 14 | Br | 3.0 | 1.3 | 滿足 |
| 15 | Rb | 6.0 | 1.0 | 滿足 |
| 16 | Sr | 6.0 | 1.3 | 滿足 |
| 17 | Y | 3.0 | 1.2 | 滿足 |
| 18 | Zr | 6.0 | 1.8 | 滿足 |
| 19 | Pb | 6.0 | 6.0 | 滿足 |
| 20 | Th | 6.3 | 2.4 | 滿足 |
| 21 | Ba | 35.1 | 13.5 | 滿足 |
注：
1、Co受Fe元素Kb嚴重干擾，通過公式得出極低檢出限是有一定的偏差。
2、由于這個型號儀器沒有抽真空（或充氦氣），所以沒有做輕元素如Na2O、MgO、Al2O3和SiO2等。而La、Ce、Hf受散射本底影響無法得到有效譜，P、S、Cl在國家土壤標樣中都是高含量，沒有合適的低含量標樣，主要的原因是受本底影響很大，譜圖不規(guī)則，均沒有考慮。
3. 滿足國標的元素有K、Ca、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Ga、Rb、Y、Ba、Sr、Br、As、Pb、Th和Zr。
EDX 3200S PLUS系列儀器介紹
圖2 EDX 3200S PLUS 熒光光譜儀
EDX 3200S PLUS 屬于江蘇天瑞儀器股份有限公司自主研發(fā)的產(chǎn)品，設(shè)備采用了能量色散X射線熒光光譜技術(shù)實現(xiàn)土壤中微量金屬有害元素的快速檢測，設(shè)備采用了先進的探測器和激發(fā)源等硬件配置。
本產(chǎn)品除了測量土壤和水系沉積物外，還可以用于稻米、小麥、谷物、煙草等作物中的重元素鎘（Cd）、鉛（Pb）、砷（As）和硒（Se）的快速無損檢測。
性能參數(shù)
產(chǎn)品型號：EDX 3200S PLUS
產(chǎn)品名稱：X熒光光譜儀
測量元素范圍：從鈉（S）到鈾（U）
元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同）
同時分析元素：性可測幾十種元素
測量時間：60秒-300秒
探測器能量分辨率為：可達125eV
管壓：5KV-70KV
管流：50μA-1000μA
測量對象狀態(tài)：粉末、固體、液體
輸入電壓：AC 110V/220V
環(huán)境溫度：15℃-30℃
環(huán)境濕度：35%-70%
