詢價
- 企業(yè)類型：貿(mào)易商
- 新舊程度：全新
- 原產(chǎn)地：臺灣
- )偵測範(fàn)圍：1pC~2000pC
- 交流耐壓輸出： 0.1kVac~10kVac
Chroma 19501-K局部放電測試器內(nèi)建交流耐電壓測試(Hipot Tes t)與局部放電(Par t ial
Di s c h a rg e, PD)偵測功能於一單機，Chroma 19501-K提供交流電壓輸出0 . 1 k V ~ 1 0 k V，漏電流測量範(fàn)圍0 . 0 1 μ A~3 0 0 μ A，局部放電偵測範(fàn)圍1pC~2000pC，針對高壓半導(dǎo)體元件與高絕緣材料測試應(yīng)用所設(shè)計與開發(fā)。
Chroma 19501-K局部放電測試器產(chǎn)品設(shè)計符合IEC60270-1法規(guī)，針對高電壓試驗技術(shù)中對
局部放電測試要求，採用窄頻濾波器 (Narrow-band) 量測技術(shù)進行PD放電量測量，並將量測
結(jié)果以直觀數(shù)值 (pC) 顯示在螢?zāi)簧献屖褂谜咔宄髁舜郎y物測試判定結(jié)果。
Chroma 19501-K產(chǎn)品設(shè)計上，除了符合IEC60270-1，同時也符合光耦合器IEC60747-5-5與VDE0884法規(guī)要求，內(nèi)建IEC60747-5-5法規(guī)之測試方法於儀器內(nèi)部，滿足光耦合器產(chǎn)品生產(chǎn)測試需求，並提使用者便利的操作介面。
於生產(chǎn)線上執(zhí)行高壓測試時，如果待測物未能正確及良好連接測試線，將導(dǎo)致測試結(jié)果失敗甚至發(fā)生漏測的風(fēng)險，因此在測試前確保待測物與測試線良好連接是非常重要的。Chroma獨特之高壓接觸檢查功能 (High Voltage Contact Check : HVCC) 係利用Kelvin測試方法針對高絕緣能力之元件，於高壓輸出時同步進行接觸檢查，增加測試有效性與生產(chǎn)效率。在固體絕緣物中含有氣隙或雜質(zhì)混合在絕緣層時，額定工作高壓狀態(tài)下，由於較高的電場強度集中於氣隙而產(chǎn)生局部放電 (Partial Discharge),持續(xù)性的局部放電會長久劣化周遭絕緣材，而影響電氣產(chǎn)品之長久信賴性，而引起安全事故。應(yīng)用於電源系統(tǒng)之安規(guī)元件，如光耦合器，因考量如果元件長時間發(fā)生局部放電對於絕緣材料的破壞，而發(fā)生絕緣失效的情況，進而引發(fā)使用者人身安全問題；因此，在IEC60747-5-5法規(guī)中提及，於生產(chǎn)過程中 (Routine test) 必須100%執(zhí)行局部放電 (Partial discharge) 檢測，在絕緣電壓條件下不能超過5pC放電量，確保產(chǎn)品在正
常工作環(huán)境中不會發(fā)生局部放電現(xiàn)象。局部放電測試器主要針對高壓光耦合器、高壓繼電器及高壓開關(guān)等高絕緣耐受力之元件，提供高壓的耐壓測試與局部放電偵測，確保產(chǎn)品品質(zhì)與提升產(chǎn)品可靠度。
