詢價
- 企業(yè)類型：制造商
- 新舊程度：全新
- 原產地：江蘇省蘇州昆山市中華園西路1888號
- 測試平臺：精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現(xiàn)三維移動。
- 探測器：Si-Pin探測器
- 工作原理：利用x射線對金屬表面進行激發(fā)，檢測熒光強度來換算成金屬表層的厚度的儀器
- 準直器大小：φ0.1mm的小孔準直器
- 溫度要求：15℃至30℃。
- 電源：交流220V±5V 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
- 外觀尺寸：576(W)×495(D)×545(H) mm
x ray鍍金層測厚儀產品簡介
怎么測試磁性材料上金屬鍍層厚度，磁性材料X熒光鍍層測厚儀是款無損測試厚度設備，快速、簡便、操作簡單，天瑞儀器是業(yè)電鍍層測厚儀生產廠家，分析儀器上市公司。Thick800A磁性材料X熒光鍍層測厚儀是款應用廣泛的能量色散型X射線熒光光譜儀，使用大窗超薄窗口高分辨率的SDD探測器，其探測器分辨率低為139eV，處于際水平；產品采用上照式設計，多重保護裝置以及X射線發(fā)生器，使輻射劑量符合際規(guī)定；樣品觀察系統(tǒng)采用CCD攝像頭、數(shù)字多道分析器、激光定位以及自主研發(fā)的用測厚分析軟件，各項指標均符合相關技術要求，技術達際水平。
x ray鍍金層測厚儀配件
(1) X光管 (2) Si-PIN電制冷半導體探測器
(3) 信號檢測電子電路 (4) 高精度二維移動平臺
(5) 高清晰攝像頭 (6) 高低壓電源
(7) 開放式樣品腔 (8）雙激光定位裝置
(9) 鉛玻璃屏蔽罩
x ray鍍金層測厚儀產品特點
該款儀器為電子半導體、五金電鍍、印刷線路板、飾手表、檢測機構等行業(yè)量身打造的業(yè)儀器。XYZ三個可調節(jié)方向、方位的樣品觀察系統(tǒng)和激光定位使得檢測更方便。超大的測試內部空間，良好的散熱效果和抗電磁干擾能力，模塊化的結構設計使安裝、調試、維護更方便，可適應惡劣工作環(huán)境。 采用
公司新的能量色散X熒光FpThick軟件，的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化應用軟件，具有高靈敏度、測試時間短、鍵智能化操作。譜圖區(qū)域采用動態(tài)模式，測試時元素觀察更直觀。
具有多種測試模式設置和無限數(shù)目模式自由添加，內置強度校正方法，可校正幾何狀態(tài)不同和結構密度不均勻的樣品造成的偏差。
x ray鍍金層測厚儀產品用途
1、電子半導體行業(yè)接插件和觸點的厚度測量
2、印刷線路板行業(yè)功能鍍層厚度測量
3、貴金屬飾手表行業(yè)鍍層厚度測量
4、五金電鍍行業(yè)各種防腐性、裝飾性及功能鍍層厚度測量
產品優(yōu)勢
x ray鍍金層測厚儀滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
高精度移動平臺可測試點，重復定位精度小于0.005mm
磁性材料電鍍層測厚儀采用高度定位激光，可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊
鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點
高分辨率探頭使分析結果更加精準
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護
參數(shù)規(guī)格
1 型號Thick800A磁性材料X熒光鍍層測厚儀
2外型尺寸576(W)×495(D)×545(H) mm
3樣品室尺寸 500(W)×350(D)×140(H) mm
4 樣品臺尺寸 30(W)×210(D)mm
5 Z軸升降平臺升降范圍0～140mm
6 平臺移動測量范圍 50mm(W)×500mm(D)×135mm(H)
7 *分析方法 FP與EC法兼容能量色散X熒光分析方法
8 測量元素范圍 原子序數(shù)為16S～92U之間的元素均可測量
9 *同時檢測元素次可同時分析多24個元素，五層鍍層
10 *檢出限 金屬鍍層分析薄可達0.005μm
11 厚度范圍 分析鍍層厚度般在50μm以內（每種材料有所不同）
12 穩(wěn)定性 多次測量重復性可達1%
13 檢測時間 30-60
公司介紹
天瑞儀器成立于1992 年，以研究、生產、銷售X 熒光光譜分析儀起步，目從事以光譜儀、色譜儀、質譜儀為主的高端分析儀器及應用軟件的研發(fā)、生產、銷售和相關技術服務，是內在創(chuàng)業(yè)板上市的分析儀器企業(yè)。公司產品主要應用于環(huán)境保護與安（空氣、土壤、水質污染檢測等）、礦產與資源（地質、采礦）、商品檢驗甚至人體微量元素的檢驗等眾多域。
江蘇天瑞儀器股份有限公司是業(yè)生產ROHS檢測儀，X射線測厚儀，電鍍層測厚儀，磁性材料X熒光鍍層測厚儀，氣相色譜質譜聯(lián)用儀，LCMS，手持式合金分析儀
