詢價
- 新舊程度：全新
- 原產(chǎn)地：中國
- 外形尺寸：360 mm x 600mm x 385 mm （長x寬x高）
- 樣品倉尺寸：360mm×400mm x160（長x寬x高，高度可定制）
- 儀器重量：50kg
E3 通用型 X 射線熒光光譜儀
E3 作為通用型能量色散型 X 射線熒光光譜儀，專為鍍金、鍍錫、鍍鉻、鍍銀、鍍鎳等多種鍍層厚度檢測設計，適配電子、五金、珠寶等多行業(yè)需求。無論是電子元器件的精密鍍鎳、珠寶首飾的鍍金層檢測，還是五金配件的鍍鉻防銹層測量，都能精準應對，無需為不同鍍層類型更換專用設備，大幅降低企業(yè)檢測成本。同時，儀器操作門檻低，配備直觀的觸控操作界面，內(nèi)置各鍍層檢測的標準化流程，新人經(jīng) 1-2 小時培訓即可獨立操作，避免因操作不當導致的檢測失誤，尤其適合生產(chǎn)車間多班次輪崗的質(zhì)檢場景。其核心部件從美國進口，如探測器、X 射線光管等，保障長期檢測穩(wěn)定性，即使每天高頻次檢測，也能避免因部件性能衰減導致的數(shù)據(jù)偏差；軟件算法采用美國 EDXRF 前沿技術，能快速處理光譜數(shù)據(jù)，消除基體干擾 —— 比如檢測鋼鐵基體上的鍍錫層時，可有效過濾鐵元素信號影響，精準計算鍍層厚度。儀器所用標準樣品附帶權威第三方報告，確保校準與檢測結果可信，應對客戶審核或行業(yè)監(jiān)管時更具說服力。此外，軟件支持檢測數(shù)據(jù)自動存儲與導出，可按日期、樣品類型生成質(zhì)檢報告，方便企業(yè)留存數(shù)據(jù)追溯記錄，滿足 ISO 質(zhì)量體系等合規(guī)要求。在精密度、準確度、檢出限上，E3 全面超越國內(nèi)外同類儀器，對微米級薄鍍層（如電子芯片的 5μm 鍍金層）也能精準測量，避免因檢測誤差導致的產(chǎn)品質(zhì)量隱患。針對大件、異形、不平整樣品，無需拆分，憑借優(yōu)化的樣品腔與自動對焦探頭，直接測試即可獲結果 —— 像大型機械的異形鍍鉻部件、帶花紋的珠寶鍍銀飾品，無需切割或打磨，既能保護樣品完整性，又大幅提升檢測效率，助力企業(yè)縮短生產(chǎn)質(zhì)檢周期。同時，儀器搭載多重防輻射設計，外殼采用加厚防輻射材料，樣品腔門關閉后才啟動檢測，周邊輻射劑量遠低于安全標準，操作人員無需穿戴專業(yè)防護裝備，可安心在車間、實驗室等場景使用，兼顧檢測效率與人員安全。測厚儀測厚儀測厚儀測厚儀
