1.ATP3030高分辨率光纖光譜儀產(chǎn)品介紹

ATP3030高分辨率光纖光譜儀作為奧譜天成 ATP3000系列高分辨率光譜儀的核心型號(hào)，突破傳統(tǒng)交叉 C-T 光路局限，創(chuàng)新采用M 型非交叉 C-T 光路結(jié)構(gòu)，實(shí)現(xiàn)了超高分辨率與低雜散光的完美平衡。該儀器體積小巧，性能卓越，兼具高速檢測(cè)，高可靠性與高性價(jià)比優(yōu)勢(shì)，廣泛適用于在線監(jiān)測(cè)，科研分析等嚴(yán)苛應(yīng)用場(chǎng)景，為用戶提供精準(zhǔn)，穩(wěn)定，高效的光譜分析解決方案。

     2.ATP3030高分辨率光纖光譜儀特征

內(nèi)置氙燈同步觸發(fā)控制電路

光譜范圍: 200-1100 nm

光譜分辨率: 0.05-2nm

光路結(jié)構(gòu): 非交叉C-T

檢測(cè)器： 2048或4096像素

積分時(shí)間: 0.1ms-256s

供電電源: 直流5V USB供電

ADC位深：16位

ADC采樣率：2MHz

數(shù)據(jù)輸出接口：USB Type-C

30針擴(kuò)展接口

       3.ATP3030高分辨率光纖光譜儀應(yīng)用場(chǎng)景

1.等離子體發(fā)光檢測(cè)

2.LIBS

3.拉曼光譜檢測(cè)

4.波長(zhǎng)監(jiān)測(cè)，激光、LED等發(fā)光體

5.水質(zhì)分析儀

6.紫外煙氣分析儀

7.LED分選機(jī)、顏色檢測(cè)

8.微量、快速分光光度計(jì)

9.光譜分析、輻射分光分析、分光光度分析

10.反射、透射光譜檢測(cè)

      4.ATP3030高分辨率光纖光譜儀核心技術(shù)優(yōu)勢(shì)

1.ATP3030高分辨率光纖光譜儀極限分辨率 0.05nm（需搭配窄狹縫 + 高刻線光柵組合），常規(guī)配置可達(dá) 0.1nm/0.2nm，滿足精細(xì)光譜分析需求

2.M 型光路設(shè)計(jì)有效抑制雜散光干擾，520nm 處光斑尺寸僅 11μm，顯著優(yōu)于傳統(tǒng)交叉 C-T 光路（98.9μm），提升測(cè)量精度

全波段雜散光控制在0.1% 以下，確保微弱信號(hào)的準(zhǔn)確捕捉

3.光譜測(cè)量范圍覆蓋180-1150nm（UV-Vis-NIR 全波段），單臺(tái)儀器可通過(guò)選配不同波段光柵實(shí)現(xiàn)特定波長(zhǎng)范圍的精準(zhǔn)測(cè)量

4.支持 2048 像素或 4096 像素線性 CMOS 檢測(cè)器選擇，適配不同分辨率與靈敏度需求

5.多種狹縫（5μm/10μm/25μm/50μm）與光柵（1200/1800/2400/3600 線 /mm）組合，滿足個(gè)性化測(cè)量需求

6.16 位 ADC 轉(zhuǎn)換器，采樣率高達(dá)2MHz，實(shí)現(xiàn)快速光譜采集

7.積分時(shí)間范圍0.1ms-60s，適配從快速動(dòng)態(tài)過(guò)程到微弱信號(hào)檢測(cè)的多樣化場(chǎng)景

8.內(nèi)置氙燈同步觸發(fā)控制電路，支持外部觸發(fā)與同步測(cè)量，提升實(shí)驗(yàn)靈活性

9.工業(yè)級(jí)設(shè)計(jì)，適應(yīng) - 10℃~45℃寬溫度范圍工作，具備優(yōu)異的環(huán)境適應(yīng)性

10.單電源供電（DC 5V±10% 或 USB 直接供電），簡(jiǎn)化系統(tǒng)集成

11.支持 USB 2.0 與 RS232/UART 雙接口數(shù)據(jù)輸出，兼容多種數(shù)據(jù)采集系統(tǒng).

12.配套專業(yè)光譜分析軟件，支持實(shí)時(shí)顯示、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)、光譜處理與導(dǎo)出，操作便捷