型號/規(guī)格:CDF-9000型
產(chǎn)品描述:本機適用于各類需用直流和三相全波直流磁粉探傷工件的設(shè)備(該設(shè)備合美國MIL標(biāo)準(zhǔn)),可對工件進行周向、縱向磁化和頻直流退磁,既可用于連續(xù)法探傷,又適用于...
型號/規(guī)格:CDF-9000型
產(chǎn)品描述:本機適用于各類需用直流和三相全波直流磁粉探傷工件的設(shè)備(該設(shè)備合美國MIL標(biāo)準(zhǔn)),可對工件進行周向、縱向磁化和頻直流退磁,既可用于連續(xù)法探傷,又適用于...
型號/規(guī)格:CDG
產(chǎn)品描述:CDG-8000E交直流熒光磁粉探傷機 功能/特點該設(shè)備采用固定式分立型結(jié)構(gòu),主要由電源控制柜、直流磁化電源、人機界面操作控制裝置、磁化及夾持裝置、交流磁化...
型號/規(guī)格:CDG
產(chǎn)品描述:CDG-8000E交直流熒光磁粉探傷機 功能/特點該設(shè)備采用固定式分立型結(jié)構(gòu),主要由電源控制柜、直流磁化電源、人機界面操作控制裝置、磁化及夾持裝置、交流磁化...
型號/規(guī)格:CDH-6000
產(chǎn)品描述:類型磁粉探傷儀品牌偉力 型號CDH-6000測量范圍0-800 分辨率2號試片清晰顯示尺寸2400*1000(mm) 重量800(kg) ...
型號/規(guī)格:CDH-6000
產(chǎn)品描述:類型磁粉探傷儀品牌偉力 型號CDH-6000測量范圍0-800 分辨率2號試片清晰顯示尺寸2400*1000(mm) 重量800(kg) ...
型號/規(guī)格:CDF-9000型
產(chǎn)品描述:類型磁粉探傷儀品牌探傷機 型號CDF-9000型測量范圍直徑800.長2000 分辨率100%尺寸長3500*寬800*高1500(mm) 重量4000公斤(kg) ...
型號/規(guī)格:CDF-9000型
產(chǎn)品描述:類型磁粉探傷儀品牌探傷機 型號CDF-9000型測量范圍直徑800.長2000 分辨率100%尺寸長3500*寬800*高1500(mm) 重量4000公斤(kg) ...
供應(yīng)CEW-4000型微機控制交直流熒光磁粉探傷機
型號/規(guī)格:CEW-4000型
產(chǎn)品描述:品牌微機控制交直流熒光磁粉探傷機型號CEW-4000型 該機為微機控制半自動濕法交直流熒光磁粉探傷設(shè)備。適用于曲軸、凸輪軸及類似形...
供應(yīng)CEW-4000型微機控制交直流熒光磁粉探傷機
型號/規(guī)格:CEW-4000型
產(chǎn)品描述:品牌微機控制交直流熒光磁粉探傷機型號CEW-4000型 該機為微機控制半自動濕法交直流熒光磁粉探傷設(shè)備。適用于曲軸、凸輪軸及類似形...
型號/規(guī)格:CDG-6000E型
產(chǎn)品描述:該機采用6000型磁粉探傷機和CZQ-6000型三相全波直流探傷頻退磁機組合成交直流磁粉探傷機;可對件分別實現(xiàn)交流、直流和交直流復(fù)合磁化電流連續(xù)可調(diào),并可預(yù)選...
型號/規(guī)格:CDG-6000E型
產(chǎn)品描述:該機采用6000型磁粉探傷機和CZQ-6000型三相全波直流探傷頻退磁機組合成交直流磁粉探傷機;可對件分別實現(xiàn)交流、直流和交直流復(fù)合磁化電流連續(xù)可調(diào),并可預(yù)選...
型號/規(guī)格:CEW-4000
產(chǎn)品描述:熒光磁粉探傷機主要功能: 該熒光磁粉探傷機設(shè)備用于工件表面及近表面因鑄造、鍛壓、淬火、研磨、疲勞等引起的各種裂紋、夾渣等細微的缺陷的檢測。適用于...
型號/規(guī)格:CEW-4000
產(chǎn)品描述:熒光磁粉探傷機主要功能: 該熒光磁粉探傷機設(shè)備用于工件表面及近表面因鑄造、鍛壓、淬火、研磨、疲勞等引起的各種裂紋、夾渣等細微的缺陷的檢測。適用于...
型號/規(guī)格:CDG-9000E
產(chǎn)品描述:一、設(shè)備名稱:CDG-9000E三相全波交直流頻磁粉探傷機。 二、設(shè)備制造標(biāo)準(zhǔn)和依據(jù): 2.1、根據(jù)貨物需求及技術(shù)規(guī)范的磁粉探傷工藝需求; 2.2、按照...
型號/規(guī)格:CDG-9000E
產(chǎn)品描述:一、設(shè)備名稱:CDG-9000E三相全波交直流頻磁粉探傷機。 二、設(shè)備制造標(biāo)準(zhǔn)和依據(jù): 2.1、根據(jù)貨物需求及技術(shù)規(guī)范的磁粉探傷工藝需求; 2.2、按照...

