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Napson(日本)
Napson
日本NapsonCorpwww.napson.co.jp主要產(chǎn)品量測(cè)包含:四點(diǎn)探針電阻系數(shù)測(cè)試儀、電阻系數(shù)圖量測(cè)系統(tǒng)、非接觸芯片分類／測(cè)試系統(tǒng)、晶棒電阻系數(shù)測(cè)試系統(tǒng)、晶棒圓晶次電荷存時(shí)測(cè)試器、非接觸／接觸P/N測(cè)試儀
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NAPSON 半自動(dòng)四點(diǎn)探針Mapping測(cè)試儀
描述：CRBOX半自動(dòng)四探針測(cè)試儀可用于測(cè)試硅晶片及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo) 電薄膜、金屬薄膜等材料的電阻率和方塊電阻，具有圖譜軟件功能，可作二維、三維圖形； 具有厚度/邊緣/溫度補(bǔ)償功能；... 立即詢價(jià)上海市
價(jià)格：電議
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