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NAPSON 半自動(dòng)四點(diǎn)探針Mapping測(cè)試儀
描述：CRBOX半自動(dòng)四探針測(cè)試儀可用于測(cè)試硅晶片及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo) 電薄膜、金屬薄膜等材料的電阻率和方塊電阻，具有圖譜軟件功能，可作二維、三維圖形； 具有厚度/邊緣/溫度補(bǔ)償功能；... 立即詢價(jià)上海市
價(jià)格：電議
