德國(guó)BMT AFM 3000多用掃描儀系列的詳細(xì)信息

 

在當(dāng)今工業(yè)生產(chǎn)中對(duì)納米級(jí)表面結(jié)構(gòu)的了解日益重要。這些應(yīng)用包含了從內(nèi)燃機(jī)磨損到新型潤(rùn)滑涂層和防腐蝕保護(hù)層，以及現(xiàn)代車(chē)用噴漆，從半導(dǎo)體工業(yè)到醫(yī)用技術(shù)。傳統(tǒng)方法已經(jīng)無(wú)法處理上述的長(zhǎng)度空間。但同時(shí)可以看到，對(duì)表面、涂層和功能材料表面盡可能全面地就性能進(jìn)行描述日益成為工業(yè)界和科研機(jī)構(gòu)的迫切需求，例如在局部極小的尺寸內(nèi)對(duì)化學(xué)反應(yīng)過(guò)程，腐蝕和磨損進(jìn)行觀察等等。原子力顯微鏡作為極其靈活的圖像檢測(cè)方法尤其適合這些應(yīng)用，它的測(cè)量范圍覆蓋了從0.2毫米到微米納米直至原子晶體結(jié)構(gòu)。而這樣大的測(cè)量范圍只需使用同一臺(tái)設(shè)備。隨著B(niǎo)MT多用掃描儀AFM 3000的研制成功，市場(chǎng)上終于出現(xiàn)了一臺(tái)掃描原子力顯微鏡，它的突出特點(diǎn)是模塊化結(jié)構(gòu)、高度靈活性而且操作極其簡(jiǎn)便。它獨(dú)特的測(cè)量模塊運(yùn)用了化學(xué)對(duì)比度成像（Chemical Contrast Imaging (CCI-AFM) ，這種新技術(shù)可以檢測(cè)到表面極其微量的化學(xué)變化，這樣就可以跟蹤腐蝕、磨損、氧化等等物理和化學(xué)反應(yīng)實(shí)際發(fā)生的位置，這些反應(yīng)通常正是在微米和納米尺度上。用多用成像軟件包可以在多個(gè)采集點(diǎn)上同時(shí)采集圖像信息：從采樣點(diǎn)表面形貌到摩擦，磨損和接觸剛性，一直到化學(xué)對(duì)比度。主要特點(diǎn)：◆ 操作極其簡(jiǎn)便，用戶控制，模塊化構(gòu)造
◆ 多用掃描 測(cè)量頭, 就極高的穩(wěn)定性作了優(yōu)化
◆ 多測(cè)量模式選擇: 接觸模式，非接觸模式，震蕩接觸模式，力調(diào)制顯微鏡，摩擦顯微鏡和粘合顯微鏡，力譜儀，相位對(duì)比度。
◆ 使用同一個(gè)測(cè)量頭可達(dá)到的掃描范圍從納米級(jí)到面積為 200 μm x 200μm
◆ 包括化學(xué)對(duì)比度成像 (CCI-AFM) 模式
◆ 包括保護(hù)氣體選項(xiàng)
◆ 可直接在樣品實(shí)地的溫度和濕度條件下測(cè)量
◆ 包括可在液體中測(cè)量的工作方式
◆ 極有用途的附加模塊包括：納米電鍍(GalvanoScan)、納米摩擦和磨損檢測(cè) (TriboScan) 以及腐蝕 (CorroScan) 和納米構(gòu)造 (LithoScan)
◆ 可按用戶需要提供相匹配的軟件模塊 根據(jù)特
◆ 殊要求可提供應(yīng)用實(shí)例