產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

以下為標(biāo)準(zhǔn)配置，每一臺(tái)機(jī)器都具備以下功能:
測(cè)試功能
自動(dòng)學(xué)習(xí)、優(yōu)化和調(diào)整測(cè)試方法
自動(dòng)隔離
IC 漏插及方位檢測(cè)
顯示十個(gè)多錯(cuò)誤組件情況
重復(fù)測(cè)試
針號(hào)檢索功能
自我診斷功能
在掃描儀和探針閑刪除游離電容以得到準(zhǔn)確的小電容值
提供每天或累計(jì)測(cè)試結(jié)果電容
恒壓源充電方式能測(cè)試速度
軟件特性:
強(qiáng)調(diào)試方式
主要針對(duì)作進(jìn)一步微調(diào)學(xué)習(xí)和測(cè)試程序，優(yōu)化測(cè)試結(jié)果，可編改驅(qū)動(dòng)電流，延遲時(shí)間及測(cè)試頻率。
操作簡(jiǎn)易
只要經(jīng)過(guò)簡(jiǎn)易的講解，就可熟練操作，無(wú)須太多技術(shù)知識(shí)。
測(cè)試程序產(chǎn)生器 (ATG)(可選) 大多數(shù)CAD文件通過(guò)FABMASTER ATG 轉(zhuǎn)換到測(cè)試程序 ，數(shù)據(jù)不會(huì)丟失，省時(shí)，效率高。
數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器 (DTG)
很多其它品牌的I測(cè)試程序可通過(guò)DTG轉(zhuǎn)換到T310格式,避免重新編程及數(shù)據(jù)丟失。
硬件特性
性測(cè)試
直接合成數(shù)碼波形產(chǎn)生器（DDS）及數(shù)碼濾波技術(shù)（DFT）提供可編程的正弦波，具有穩(wěn)定、低失真，高訊噪比，從而了測(cè)試的性。
度
使用16位D/A和A/D，具備64K分解度；獲得高測(cè)試。
開爾芬:
開爾芬8線測(cè)試用以測(cè)量低電阻及電感。
反插探測(cè)
電解電容反插檢測(cè)
透過(guò)測(cè)量外殼的電壓或漏電電流可判別電容是否反插。
晶體管三點(diǎn)測(cè)試。
二管測(cè)試
可區(qū)別功率、訊號(hào)和齊納二管。