- 品牌/商標(biāo)：天星
- 企業(yè)類型：貿(mào)易商
- 新舊程度：全新
- 原產(chǎn)地：沈陽
ED400涂層測(cè)厚儀
ED400型渦流測(cè)厚儀是ED300型測(cè)厚儀的改進(jìn)型，儀器性能大幅度提高。 儀器適于測(cè)量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測(cè)量鋁合金型材表面的陽極氧化膜或涂層厚度，還可用于測(cè)量其它鋁材料、鋁工件表面的陽極氧化膜或涂層厚度，以及其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度，測(cè)量塑料薄膜及紙張厚度。儀器適于在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)、銷售現(xiàn)場(chǎng)或施工現(xiàn)場(chǎng)對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行快速、無損的膜厚檢查， 可用于生產(chǎn)檢驗(yàn)、驗(yàn)收檢驗(yàn)和質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)。
儀器符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4957-2003 《非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量渦流法》。
ED400渦流測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)： 測(cè)量范圍： 0～500μm
測(cè)量： 0～50μm：±1μm；
50～500μm：±2%
分 辨 率： 0～50μm：0.1μm、
50～500μm：1μm；
0～500μm：1μm(可選)
使用溫度： 5～45℃
外形尺寸： 150mm×80mm×30mm
重 量： 260g ED400渦流測(cè)厚儀配置與選配：
| 標(biāo)準(zhǔn)配置
主機(jī) 1臺(tái) |
可選附件
備用探頭 |
