| 品牌 | KIC2000爐溫測(cè)試儀 | 型號(hào) | 2000 |
| 測(cè)量范圍 | 0~300（℃） | 外形尺寸 | 200（mm） |
| 裝箱數(shù) | 1 |
爐溫測(cè)試儀制造廠商，SMT周邊設(shè)備及配件,KIC爐溫測(cè)試儀,
KIC2000提供給您高度的準(zhǔn)確性和自動(dòng)化： KIC2000有性能的軟件； KIC2000使用快速簡(jiǎn)單； KIC2000有更準(zhǔn)確優(yōu)化的工藝設(shè)置。
- 自動(dòng)溫度監(jiān)控系統(tǒng)
KIC 24/7 采用了定制的探測(cè)器，這些探測(cè)器安裝在產(chǎn)品層的上方回流焊爐內(nèi)，用于收集和記錄每種產(chǎn)品的實(shí)時(shí)工藝制程溫度曲線數(shù)據(jù)。KIC 24/7能為每個(gè)已制造的產(chǎn)品推算專門(mén)的產(chǎn)品溫度曲線——包括相關(guān)工作制程數(shù)據(jù)，從而不定期制定驗(yàn)證溫度曲線。
- SPC圖示
關(guān)鍵工藝制程規(guī)范自動(dòng)圖標(biāo)數(shù)據(jù)：峰值溫度、恒溫時(shí)間、液相線以上時(shí)間等等。這些數(shù)據(jù)將會(huì)繪制到實(shí)時(shí)控制圖上，同時(shí)也會(huì)計(jì)算出每個(gè)規(guī)范的工藝制程能力（Cpk）。圖表總體工藝制程窗口指數(shù)（PWI），提供整個(gè)工藝制程的實(shí)時(shí)Cpk。任何出控制范圍或已定義Cpk值的制程偏差都會(huì)立即觸發(fā)警報(bào)。實(shí)時(shí)Cpk追查能實(shí)現(xiàn)缺陷的故障保險(xiǎn)系統(tǒng)，以便自動(dòng)識(shí)別潛在的缺陷。
- 簡(jiǎn)化為單個(gè)數(shù)值來(lái)表示溫度曲線的合規(guī)范量
KIC 24/7采用了工藝制程窗口指數(shù)（PWI），以便更的評(píng)估溫度曲線性能，PWI能參照工藝制程規(guī)范計(jì)算出制定溫度曲線對(duì)可用工藝制程窗口的使用量。因此，PWI越低，工藝制程效果就越高，也更穩(wěn)定
可快速，方便，繪制溫度曲線
即時(shí)客觀的溫度曲線分析
方便易用的軟件
手動(dòng)溫度曲線預(yù)測(cè)
穩(wěn)固的硬件
