| 品牌 | BudgetSensors | 型號 | Multi75E-G-10 |
| 測量范圍 | 200nm 以上的細節(jié)的更平衡成像 | 測量 | 25 nm |
| 外形尺寸 | 3.4×1.6×0.3（mm） | 用途 | 用于AFM測試，EFM靜電力顯微鏡 |
BudgetSensors Multi75E-G導電AFM探針
產(chǎn)品描述
BudgetSensors®的AFM探針用于您AFM測量，能測量的正確結(jié)果。
探針是用單晶硅做的，能適用于大部分的商業(yè)AFM（VEECO, DI Nanoscope, Asylum Research, Agilent/Molecular Imaging, PSI, JEOL,…）。
從測量結(jié)果的度、勻稱性、密度方面來說，BudgetSensors®的探針測量結(jié)果過別的商業(yè)SPM硅探針的測量結(jié)果。
•力調(diào)式、脈沖力成像模式PFM、電力式
-掃描電容顯微鏡SCM
-靜電力顯微鏡EFM
-表面電位顯微鏡KFM
-掃描探針平版印刷
•旋轉(zhuǎn)的單晶硅探針，對稱針尖
支架尺寸：3.4×1.6×0.3 mm（在這種產(chǎn)品支架背上有調(diào)節(jié)凹槽）。
•涂層:臂雙面可以涂上5nm厚的導電鉻涂層和25nm厚的電導鉑涂層。
這種涂層可以增強懸臂的激光束反射性。
•這種對稱的針尖安裝在探針時產(chǎn)生“掃描傾斜角”效果,
這能200nm以上的細節(jié)的更平衡成像。
應(yīng)用范圍：
EFM等導電AFM應(yīng)用
技數(shù)據(jù)
Technical Data | Value | Range |
Force Constant | 3N/m | 1 - 7 N/m |
Resonance Frequency | 75 kHz | +/- 15 kHz |
Length | 225µm | +/- 10 µm |
Width(rectangular part) | 28 µm | +/- 5 µm |
Thickness | 3 µm | +/- 1 µm |
Shape / Cross-section | - | |
Nuer of Cantilevers | 1 | |
Tip Offset | 15 µm | +/- 5 µm |
Tip Style | - | |
Tip Height | 17 µm | +/- 2 µm |
Tip Radius | < 25 nm | |
Half Cone Angle | 20º- 25ºalong cantilever axis 25º- 30ºfrom side 10ºat the apex | |
Material | Silicon | |
Chip Size (industry standard) | 3.4×1.6×0.3 mm | |
Coating (optional) | Conductive Cr/Pt on both sides | |
Contact Resistance | 300 Ohms on platinum thin film surface | |
訂購型號
數(shù)量 | 涂層 | 懸臂參數(shù)數(shù)據(jù) | 懸臂數(shù) | 訂購編號 | 價格 |
10根 | 雙面的導電鉻、鉑涂層，調(diào)節(jié)凹槽 | 無 | 1 | Multi75E-G -10 | 詢價 |
50根 | 雙面的導電鉻、鉑涂層，調(diào)節(jié)凹槽 | 無 | 1 | Multi75E-G -50 | 詢價 |
